
JEM-ARM200F NEOARM Atomic Resolution Analytical Electron
The combination of a Cold FEG and ASCOR enables atomic-resolution imaging at not only 200 kV accelerating voltage, but also a low voltage of 30 kV. "NEOARM" is also equipped with an automated aberration correction system that incorporates JEOL’s new aberration correction algorithm for automatic fast and precise aberration correction.
JEM-ARM200F NEOARM 原子分解能分析電子顕微鏡 - JEOL
"NEOARM"は、当社独自の技術で開発された冷陰極電界放出形電子銃(Cold-FEG)と高次の収差まで補正可能な新型球面収差補正装置(ASCOR)を標準搭載し、200 kVの高加速電圧だけでなく30 kVの低加速電圧においても原子分解能での観察を実現しました。
Atomic Resolution Microscope | TEM - JEOL USA
The NEOARM excels at atomic-resolution imaging for a wide range of accelerating voltages ranging from 30 kV to 200 kV. The NEOARM features a unique cold field emission gun (Cold-FEG) as well as a next generation advanced Cs corrector (ASCOR) that compensates for higher order aberrations.
JEOL JEM ARM200f NEOARM - Virginia Tech
The NEOARM is a probe aberration corrected S/TEM with a Cold Field Emission Gun (cFEG), the first-of-its-kind in Virginia Tech, with the following features: •Aberration corrector alignment: High-precision correction of higher order aberrations up to …
UNM | Center for MicroEngineered Materials
The NEOARM will be calibrated in STEM aberration corrected mode to operate at 200 kV, 80 kV and 40 kV, providing exceptional versatility for imaging a wide range of different materials including beam sensitive organic materials.
JEM-ARM200F NEOARM 原子级分辨率透射电子显微镜
“NEOARM” 标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪(Cold-FEG)和全新的高阶球差校正器(ASCOR)。 无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下,均能实现原子级分辨率的观察与分析。
日本JEOL原子级透射电子显微镜JEM-ARM200F - 仪器信息网
日本JEOL原子级分辨率透射电子显微镜JEM-ARM200F NEOARM. NEOARM” 标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪(Cold-FEG)和全新的高阶球差校正器(ASCOR)。 无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下,均能实现原子级分辨率的观察与分析。 同时还配备了自动像差校正系统,可以自动进行快速准确的像差校正。 新STEM成像技术(e-ABF法)可以更加简便地观察到含有轻元素样品的高清晰(衬度)图像。 产品规格: 主要特点: 球差校正 …
JEM-ARM200F NEOARM 原子级分辨率透射电子显微镜
日本JEOL 原子级分辨率透射电子显微镜 JEM-ARM200F NEOARM. NEOARM” 标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪(Cold-FEG)和全新的高阶球差校正器(ASCOR)。 无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下,均能实现原子级分辨率的观察与分析。 同时还配备了自动像差校正系统,可以自动进行快速准确的像差校正。 新STEM成像技术(e-ABF法)可以更加简便地观察到含有轻元素样品的高清晰(衬度)图像。 产品规格: 主要特点: 球差校正 …
AIM-10: JEOL NEOARM AC-TEM | Equipment | Maryland …
2025年4月4日 · The Jeol NEOARM 200 Aberration Corrected TEM/STEM system includes a field emission gun, energy dispersive X-ray (EDS) and electron energy loss (EELS) spectrometers, …
最新球差校正透射电子显微镜JEM-ARM200F "NEOARM"发布 - 日 …
2017年5月1日 · “NEOARM”标配日本电子独有的冷场发射电子枪和全新的高阶球差校正器(ASCOR), 从200kV到30kV的加速电压下,均能实现原子分辨率观察与分析。
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