Scanning near-field infrared microscopy - Nature Reviews Physics
2021年6月1日 · In scattering SNOM, a laser is focused onto a metallized atomic force microscope (AFM) probe, which excites a tightly confined near-field (a non-radiative electromagnetic field) …
Near-field scanning optical microscope - Wikipedia
Near-field scanning optical microscopy (NSOM) or scanning near-field optical microscopy (SNOM) is a microscopy technique for nanostructure investigation that breaks the far field resolution …
摘要 扫描近场光学显微镜（SNOM）因其具有可达10 nm量级的超高光学分辨率与光谱分析能力，为物理、化学、材料科 学和生命科学等领域的若干重要前沿基础科学问题提供了强有力的 …
Tomographic and multimodal scattering-type scanning near-field …
2018年5月21日 · In s-SNOM, elastically scattered light from a sharp metallic tip operated in an atomic force microscope (AFM) over sample surface is measured by an optical detector 22, …
Basic principle of s-SNOM: (1) focus light onto a sharp AFM tip; (2) illuminated tip creates strong near-field nano-focus at tip apex; (3) nano-focus probes optical properties of the sample …
Two Complementary Nanoscale IR Techniques: Photothermal AFM-IR and s-SNOM
This webinar introduces two main techniques for nanoscale IR measurements: Photothermal AFM-IR (PTIR/AFM-IR) and IR-based Scattering Scanning Nearfield Optical Microscopy (IR s …
扫描近场光学显微技术（SNOM）的新进展及应用方向
德国Neaspec公司提供的新一代近场光学显微镜采用了这一散射式技术，高分辨率可达10nm，并通过的赝外差数据分析模式，同时解析强度和相位信号，解决了纳米材料尤其是在红外光谱范围 …
散射式扫描近场光学显微镜（s-SNOM） | Bruker
互补的afm-ir和散射snom图像首次揭示了光学奇性在表面结构上的微尺度起源。通过访问关于质的结构的辐射 （s-snom） 和非辐射 （afm-ir） 信息，可以获得独特且互补的质质属性。
继显微镜之后的“高科技”放大镜 - 知乎 - 知乎专栏
afm和snom成像时都需要用到光，afm需要用一道较细的激光打到针尖上用以确定位置（针尖高度的变化反映到激光的位置变化）；而snom需要用到光照射到物体上产生 倏逝波 再转化成传播 …
Alpha300系列：拉曼、AFM 和 SNOM 先进成像系统（标准或联用）
WITec 系统的模块化设计可将不同的成像技术融于一台仪器中，如拉曼成像、荧光、明暗场照明、原子力显微镜 (AFM) 以及近场光学显微镜（SNOM 或 NSOM），从而进行更广泛的样品分析 …