Using our knowledge as well as our high precision AFM Probes, our clients are able to get the best results they need for atomic force microscopy (AFM). [ more ] For detailed information about our AFM probe product series please see below: The Industry Standard High-Quality AFM Probes for Reproducible Imaging Results.

Our Arrow™ AFM probes are designed for easy AFM tip positioning and high resolution AFM imaging. They fit to all well-known commercial SPMs (Scanning Probe Microscopes) and AFMs (Atomic Force Microscopes). The AFM probe consists of an AFM probe support chip with an AFM cantilever which has a tetrahedral AFM tip at its triangular free end.

2023年11月2日 · 相图是AFM轻敲模式下的一种重要扩展技术，因表面抵挡及黏滞力的作用，会引起振动探针的相位改变量，而抵挡及黏滞力的差异由不同材料性质引起，因此相位差可以用于观察表面定性材质分布状况。 （4）KPFM（Kelvin Probe Force Microscopy， 开尔文探针力显微镜） KPFM通过测量探针与样品之间的接触电势差（Contact Potential Difference，CPD），从而得到样品的功函数和表电势分布图，同时也可以得到表面形貌，广泛应用于金属、半导体、生物等材 …

AFM 是在 STM 基础上发展起来的，是通过测量样品表面分子 (原子)与AFM 微悬臂探针之间的相互作用力，来观测样品表面的形貌。 其工作原理：将一个对极微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一微小的针尖，针尖与样品表面轻轻接触。 由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力，通过在扫描时控制这种作用力恒定，带有针尖的微悬臂将对应于原子间的作用力的等位面，在垂直于样品表面方向上起伏运动。 利用光学检测法或隧道电流检测法，可测得对应于扫 …

Force constant range: 0.01 to 50 N/m Resonance frequency: 1 kHz to 1 MHz. Typical Geometry. Length: 50 to 500 µm Width: 20 to 50 µm Thickness: 0.4 to 8 µm. Holder. Macroscopic dimensions: 1.6 x 3.4 mm2. for easy handling and mounting into the SPM. Material: Single Crystalline Silicon or Silicon Nitride Thin Film. General remarks - AFM probe basics.

The HR-AFM includes the MOST COMMONLY USED AFM MODES. They are: Vibrating Vibrating mode imaging is the most commonly used mode for (tapping) measuring topography images with an AFM. In vibrating mode the vibration amplitude of …

For detailed information about our AFM probe product series please see below: From Non-Contact/Tapping Mode AFM and High Speed Scanning AFM to Contact Mode AFM • From SuperSharp™ AFM tips to diamond coated AFM tips. Setting standards in …

AFM全称Atomic Force Microscope，即 原子力显微镜 ，它是继 扫描隧道显微镜 （Scanning Tunneling Microscope）之后发明的一种具有原子级高分辨的新型仪器，可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测，或者直接进行纳米操纵。

AFM probes with electrically conductive platinum-iridium or conductive diamond coating for C-AFM, EFM, PFM, KPFM, SSRM, TUNA etc.

2024年8月23日 · 新南威尔士大学的Jincheol Kim、Jae Sung Yun和Jan Seidel教授&南方科技大学Jiangyu Li教授团队深入探讨了扫描探针显微镜（SPM）技术在卤化物钙钛矿太阳能电池研究中的应用。 提供了SPM测量能力的概述，展示了对钙钛矿太阳能电池材料的形貌、电子特性、化学特性和机械特性的深入理解。 包括原子力显微镜、Kelvin探针力显微镜、导电原子力显微镜、压电响应力显微镜和扫描近场光学显微镜，研究了钙钛矿材料的电学、光学和化学特性。 这些研究不 …