Fourier-transform infrared spectroscopy and X-ray powder diffraction analyses revealed that pure B4C, pure AgFe2O4, and the B4C/AgFe2O4 composites were synthesized successfully. Field emission...

2004年11月22日 · Fig. 1 compares bulk composition (ERDA) and surface composition (XPS) of samples deposited from the B4C and BC4 targets. The composition according to B–C–N (that means without impurities) is represented by the position in the ternary triangle while the oxygen content according to B–C–N–O–H for the ERDA and B–C–N–O for the XPS ...

X射线光电子能谱 （XPS）是一种表面分析技术，常规测试分析深度通常在10nm左右，可以分析样品表面元素及其化学态信息。 举个栗子。 比如样品中含Al元素。

XPS数据分析是对XPS谱图进行定性和定量分析来获取样品表面元素组成和化学态信息的过程，其中参考工具书和数据库是数据分析的重要参考，例如常用的PHI XPS Handbook、NIST XPS数据库、xpsfitting网站、lasurface网站等。

rt~~XPS结合能对照表.pdf. 下载小木虫APP 与700万科研达人随时交流. 二维码

2024年12月15日 · （1）XPS, 全称为X-ray Photoelectron Spectroscopy（X射线光电子能谱）,是一种收集和利用 X-射线光子辐照样品表面时所激发出的光电子和俄歇电子能量分布 的方法。 XPS可用于定性分析以及半定量分析, 一般从XPS图谱的 峰位和峰形获得样品表面元素成分、化学态和分子结构 等信息，从 峰强可获得样品表面元素含量或浓度（不常用）。 （2）XPS是一种典型的 表面分析手段。其根本原因在于：尽管X射线可穿透样品很深, 但 只有样品近表面一薄层发 …

XPS, 全称为X-ray Photoelectron Spectroscopy（X射线光电子能谱）, 早期也被称为ESCA (Electron Spectroscopy for Chemical Analysis)，是一种使用电子谱仪测量X-射线光子辐照时样品表面所发射出的光电子和俄歇电子能量分布的方法。 XPS可用于定性分析以及半定量分析, 一般从XPS图谱的峰位和峰形获得样品表面元素成分、化学态和分子结构等信息，从峰强 可获得样品表面元素含量或浓度。 XPS测表面还是体相？ XPS是一种典型的表面分析手段。其根本原因在 …

xps谱图分析——主线. 最强的光电子线常常是谱图中强度最大、峰宽最小、对称性最好的谱峰，称为xps谱图中的主线。每一种元素(h和he除外)都有自己最强的、具有表征作用的光电子线，它是元素定性分析的主要依据。

2020年11月26日 · XPS是以X射线为激发光源的光电子能谱，是一种高灵敏超微量表面分析技术，样品分析的 深度约为20埃，可分析除H和He以外的所有元素，可做 定性及半定量 分析. A：对化学成分未知的样品——全谱扫描 (0-1200eV) 图谱分析步骤： 1、在XPS谱图中首先鉴别出C1s、O1s、C (KLL)和O (KLL)的谱峰 (一定存在且通常比较明显)。 3、确定主要元素的最强或较强的光电子峰 (或俄歇电子峰)，再鉴定弱的谱线。 4、辨认p、d、f自旋双重线，核对所得结论。 鉴 …

2015年8月30日 · 有机物CON的XPS结合能; 有机物con的xps结合能; 核力与结合能ppt课件; 高中物理 第三章 4 原子核的结合能课件 教科版选修3-5-教科版高中选修3-5物理课件; 第一讲绪论晶体结合能11.ppt; 第一讲绪论晶体结合能.ppt; 产融结合能促进企业创新吗 --基于不同产权性质视角的研究; 高中物理第十九章原子核5核力与 ...