
什么是Shmoo图和Shmoo测试 - CSDN博客
2023年9月2日 · Shmoo测试是芯片测试中一种常用的技术手段,其方法是选取两个与芯片性能相关的指标,如最大工作频率与电源电压,分别在两个维度上对这两个指标进行扫描,并在X-Y的二维坐标系中对扫描的结果进行显示,从而可以比较直观地显现这两个被选取变量之间的 ...
IC测试:Shmooing, Shmoo测试, Shmoo图 - CSDN博客
2024年9月28日 · Shmoo 图是用于 验证集 成电路器件性能的可视化工具,其中图中的每个单元记录被检查的器件在测试条件下是否正常运行。 在识别设备状态时,shmoo 图中出现的整体通过/失败模式比单个条件的测试结果更重要。 由于相似的 shmoo 图表示相似的器件特性、缺陷原因和工艺特性,因此工程师可以通过对 shmoo 图模式进行分类来分析器件质量和缺陷原因。 Shmoo图以紧凑的方式说明了功率不足对 性能 的影响。 当然,Shmoo 图可以说明扫描更多的效果变量 …
在芯片测试行业中,什么是shmoo,这个经常出现? - 知乎
用于评价芯片实际能力,通常使用 SHMOO PLOT 工具进行分析。 同时改变两个相互关联的参数,执行功能测试。红色 Fail区域 ,绿色pass区域,得到边界故障点。
芯片测试术语,片内测试(BIST),ATE测试 - CSDN博客
2022年2月26日 · BIST(Built-In Self-Test)技术作为一种集成测试电路在芯片内部的自动测试方法,为芯片测试带来了重要的突破。 本论文将介绍 BIST 技术的原理和特点,综述其在 芯片 测试 中的应用领域,探讨面临的挑战和未来发展方向。
2018年10月22日 · Manufacturing test ideally would check every node in the circuit to prove it is not stuck. Apply the smallest sequence of test vectors necessary to prove each node is not stuck. Good observability and controllability reduces number of …
芯片测试中的Shmoo Plot:揭开神秘面纱 - 雪球
2024年7月25日 · 砖墙Shmoo(Brick Wall Shmoo):显示芯片初始化问题,可能是未定义的寄存器重置值引起的,描述芯片双稳态初始化问题,主要发生在第一次或第二次初始化是随机的情况下。
Shmooing, Shmoo test, Shmoo plot - Semiconductor Engineering
2022年10月11日 · In semiconductor testing, shmooing is the testing technique of sweeping a test condition parameter through a range to look at the device under test in operation as it would perform in the real world. The type of parameters tested depend on the purpose and type of the IC and the circumstances. At least two parameters are plotted.
搞DDR必懂的关键技术笔记:MBIST、BIRA与BISR | 算法与自修复 …
2024年8月13日 · MBIST(Memory Built-In Self-Test,内存内置自测试):是一种在芯片内部实现的测试机制,用于在芯片上电或复位时自动检测内存故障。 MBIST通过生成测试向量(test patterns),将这些向量写入内存,然后读取并验证结果来检测内存错误。 它大大减少了对外部测试设备的需求,提高了测试效率和覆盖率。 BIRA(Built-In Redundancy Analysis,内置冗余分析):虽然“BIRA”不是一个广泛认知的术语,但在此上下文中,我们可以将其理解为一种机制, …
[分享] 用 Python 实现 IC shmoo测试数据的可视化: 绘
通过Shmoo图,工程师可以直观地解析大量的数据,为质量控制、可靠性评估和决策提供关键信息。 烦恼如浮云遮月,写写脚本净心静气。 Python脚本目标:
mbist pattern shmoo fail hole issue - 知乎 - 知乎专栏
2021年2月2日 · 有个mbist pattern,ate 调试pass了,但loop测试出现小概率fail现象,对该测试项进行电源电压和测试频率的shmoo分析,发现pass window有出现随机少量的fail hole,经过对fail cycle进行分析,dft发现是从jtag到 某…
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