... the XPS spectra of high-energy ball milled BP and the BPÀC composite, the characteristic P 2p peak appears to be much more resolved in the latter (Figure 2 c). It indicates that less...

xps 光谱解读. 外来碳污染通常用作 xps 能谱的荷电基准。 外来 c1s 谱图通常有 c、c-o-c 和 o-c=o 峰。 默认情况下，可将 c-c 峰的结合能设置为 284.8 ev。 但该荷电基准值并非一直有效（例如：铝天然氧化物上的外来碳的 c1s 峰出现在约 286 ev 处）。

现在我们对这篇论文中的两个XPS分峰进行分析。对于a图，最明显的问题就是把C=C和C-C分在了同一个位置。根据专业的数据库，sp2 C的C=C通常位于284 eV，而不是现在这样。

2024年12月15日 · xps可用于定性分析以及半定量分析, 一般从xps图谱的峰位和峰形获得样品表面元素成分、化学态和分子结构等信息，从峰强可获得样品表面元素含量或浓度（不常用）。

One-step sol-gel synthesis for covering magnetic particles with polysiloxane layers with ≡Si (CH2)3NHC (S)NHC2H5 groups has been proposed. Unique properties of this functional group, containing...

2021年4月7日 · In this review, we summarize the XPS fitting models proposed especially for Ti 3 C 2 T z and propose a new fitting model based on critical analysis of previously published studies. We also point out areas where more work is needed to better understand the XPS spectra.

在 XPS测试 谱图中，对于带2p、3d、4f标识的元素，比如S2p、Ba3d、Pb4f等元素；由于 自旋劈裂效应 ，当这些元素存在一种 化学态 时，就会劈裂成两个不同属性的峰，对应XPS谱图通常会存在两个峰（过渡族元素除外，因其存在各类型伴峰，谱图比较复杂）。

用小通能测xps可以得到两个分裂峰，但是用高通能的时候发现只有一个峰了，p、al也是如此。 XPS的最小分辨一般在0.5eV以上，因此分辨不出来，看起来只有一个峰了。

Fig. 4d depicts the S 2p spectra of S-g-CN1.0, where the peaks at 165.4 eV suggest the presence of C-S-C bond 43. The chemical states of C-S-C have shown that S atom is successfully...

XPS, 全称为X-ray Photoelectron Spectroscopy（X射线光电子能谱）, 早期也被称为ESCA (Electron Spectroscopy for Chemical Analysis)，是一种使用电子谱仪测量X-射线光子辐照时样品表面所发射出的光电子和俄歇电子能量分布的方法。 XPS可用于定性分析以及半定量分析, 一般从XPS图谱的峰位和峰形获得样品表面元素成分、化学态和分子结构等信息，从峰强 可获得样品表面元素含量或浓度。 XPS测表面还是体相？ XPS是一种典型的表面分析手段。其根本原因在 …