实例说明三： 上图中O KLL, C KLL即为O和C的俄歇电子谱线，从图中可以看到O KLL其实有三组峰，最左边的为起始空穴的电子层，中间的是填补起始空穴的电子所属的电子层，右边的是发射俄歇电子的电子层。 备注：关于俄歇电子能谱的相关内容，等有机会咱们再详细讨论。 4. 自旋-轨道分裂 (SOS)： 由于电子的轨道运动和自旋运动发生耦合后使轨道能级发生分裂。 对于l＞0的内壳层来说，用内量子数j（j=｜l±ms｜）表示自旋轨道分裂。 即若l=0 则j=1/2；若l=1则j=1/2或3/2 …

采集 c1s、c kll 和价带区域。 使区分 sp2 碳和 sp3 碳的能力达到最大。 C KLL 采集条件：通能=100 eV，步长=0.5 eV，扫描次数100，扫描范围结合能=1190 eV-1246 eV。

2018年9月15日 · Shape of the C KLL (KVV) Auger spectrum provides a measure of C sp 2 /sp 3 hybridisations, alternative to C 1s spectra fitting. Due to a smaller kinetic energy of C KLL electrons than C 1s photoelectrons the investigated information depths are attributed to lower or higher surface sensitivity, respectively.

The differentiated form of the C KLL spectrum allows measurement of the D-parameter, which gives an indication of the relative amounts of sp 2 and sp 3 carbon. Measure energy separation between maxima and minima in differentiated C KLL spectrum. For functionalized carbon samples, caution must be exercised if using this method.

2021年5月20日 · 在xps谱图中首先鉴别出c1s、o1s、c(kll)和o(kll)的谱峰(通常比较明显）。 鉴别各种伴线所引起的伴峰。 先确定最强或较强的光电子峰(或俄歇电子峰)，再鉴定弱的谱线。

2021年12月23日 · 实例说明三：上图中O KLL, C KLL 即为O 和C 的俄歇电子谱线，从图中可以看到O KLL 其实有三组峰，最左边的为起始空穴的电子层，中间的是填补起始空穴的电子所属的电子层，右边的是发射俄歇电子的电子层。 4、自旋- 轨道分裂（SOS）： 由于电子的轨道运动和自旋运动发生耦合后使轨道能级发生分裂。 对于l＞0 的内壳层来说，用内量子数j（j=｜l±ms｜）表示自旋轨道分裂。 即若l=0 则j=1/2；若l=1 则j=1/2 或3/2。 除s 亚壳层不发生分裂外，其余亚壳层 …

2023年10月31日 · 实例说明三：上图中O KLL, C KLL 即为O 和C 的俄歇电子谱线，从图中可以看到O KLL 其实有三组峰，最左边的为起始空穴的电子层，中间的是填补起始空穴的电子所属的电子层，右边的是发射俄歇电子的电子层。 由于电子的轨道运动和自旋运动发生耦合后使轨道能级发生分裂。 对于l＞0 的内壳层来说，用内量子数j（j=｜l±ms｜）表示自旋轨道分裂。 即若l=0 则j=1/2；若l=1 则j=1/2 或3/2。 除s 亚壳层不发生分裂外，其余亚壳层都将分裂成两个峰。 实例 …

天然金刚石的C KLL俄歇动能是263.4 eV, 石墨的是267.0 eV, 碳纳米管的是268.5 eV, 而C60的则为266.8 eV. 这些俄歇动能与碳原子在这些材料中的电子结构和杂化成键有关。

1、在XPS谱图中首先鉴别出C1s、O1s、C (KLL)和O (KLL)的谱峰（一定存在且通常比较明显）。 3、确定主要元素的最强或较强的光电子峰（或俄歇电子峰），再鉴定弱的谱线。 4、辨认p、d、f自旋双重线，核对所得结论。 鉴别通常采用 与XPS数据库和标准谱图手册的结合能进行对比 的方法： XPS数据库 一般采用 NIST XPS database: srdata.nist.gov/xps/sel. 通过这个网站你可以查到几乎xps所需的所有数据包括：对双峰还应考虑两个峰的合理间距、强度比等。 网站使用截图.

XPS, 全称为X-ray Photoelectron Spectroscopy（X射线光电子能谱）, 早期也被称为ESCA (Electron Spectroscopy for Chemical Analysis),是一种使用电子谱仪测量X-射线光子辐照时样品表面所发射出的光电子和俄歇电子能量分布的方法。 XPS可用于 定性分析以及半定量分析, 一般从XPS图谱的峰位和峰形获得样品表面元素成分、化学态和分子结构等信息，从峰强可获得样品表面元素含量或浓度。 2. XPS表征的是样品的表面还是体相？ 为什么？ XPS是一种典型的 表面 …