
Strategic Professional – Options, AFM Advanced Financial Management (AFM) March/June 2019 – Sample Answers 1 (a)When making decisions, following investment appraisals of projects, net present value assumes that a decision must be made immediately or not at all, and once made, it cannot be changed.
ACCA AFM Past Papers | aCOWtancy Exam Centre
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Advanced Financial Management (AFM) March/June 2021 (20/21 Syllabus) Get to know your exam These graphical representations are intended to give an indication of past exam requirements and associated question content. Please note that you will not be able to complete answers within these
Automated structure discovery in atomic force microscopy
2020年2月26日 · Atomic force microscopy (AFM) with molecule-functionalized tips has emerged as the primary experimental technique for probing the atomic structure of organic molecules on surfaces.
一线大佬详解!关于AFM,读这篇文章就够了 - 知乎
2023年11月2日 · C-AFM测试电流分布基于接触模式下扫描时施加偏置电压于待测表面和导电探针之间,通过范围为 1pA (皮安)至 1 μA(微安)的线性放大器可以测量通过样品的电流,可以同时得到样品形貌和电流图像,从而测得表面电流分布及样品表面导电情况。 此外,还可以通过定点扫描获取某点的I-V曲线。 (8)MFM(Magnetic Force Microscope, 磁力显微镜) 磁性材料的宏观性能决定于材料磁畴结构和变化方式,对磁畴结构和变化方式的观测是铁磁学、信息科学和 …
导电探针原子力显微镜(C-AFM) - Nanosurf
此处描述的导电探针原子力显微或C-AFM方法是SPM系列中的一种电学模式。 它用于研究样品的电导率和成像电学特性,比如纳米级的电荷传输和电荷分布。 C-AFM被应用于纳米电子领域,太阳能电池和半导体行业,用于各种高分辨率测量,包括半导体掺杂剂分布图以及介电膜和氧化物层的质量控制。 在导电探针原子力显微镜中,尖锐的导电尖端与样品接触。 在这种接触过程中,在探针和样品之间施加偏压,并在探针光栅扫描整个表面时测量两者之间的电流,形成电导率或电 …
一文看懂原子力显微镜(AFM) - 知乎 - 知乎专栏
AFM全称Atomic Force Microscope,即 原子力显微镜 ,它是继 扫描隧道显微镜 (Scanning Tunneling Microscope)之后发明的一种具有原子级高分辨的新型仪器,可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测,或者直接进行纳米操纵。
AFM: 单原子Co提升BiOCl单晶纳米片CO2光还原效率
在300W氙灯照射且不添加任何牺牲剂和助催化剂条件下,Co-BiOCl的CO生成速率为183.9 µmol g-1 h-1,与原始BiOCl相比,该速率提高了约13倍,超过了迄今报道的大多数Bi基光催化剂。
J24 AFM examiner's report.pdf - Examiner's report Advanced...
2024年10月17日 · In this report, the examining team provide constructive guidance on how to answer the questions whilst sharing their observations from the marking process, highlighting the strengths and weaknesses of candidates who attempted these questions.
Nat. Nanotech.:清楚的观察分子之间的氢键,没做梦!- X-MOL资讯
2018年4月21日 · AFM可以直接分析有机化合物的键合结构,而对于使用的探针针尖常需要化学修饰,一般用单分子或者原子(如CO、氙)。 该步骤的主要目的是提高扫描图像分辨率(可达纳米或亚纳米级别);定量分析端基与端基之间、分子与分子之间以及端基与分子链之间的相互作用力;避免针尖对生物样品表面的损坏;避免针尖与表面硬度较大的样品直接接触,延长探针针尖的寿命。 即便如此,能够做到清楚表征分子之间的氢键还很少见到的。 以CO为例,当探针针尖修 …