2022年5月4日 · 1 Xd 一般是ARM64的通用寄存器名称，x0-x31。目的寄存器计算后将存入此寄存器。 Xn 一般是ARM64的通用寄存器名称，x0-x31。第一个源操作数，符合条件则将其存入Xd。 Xm 一般是ARM64的通用寄存器名称，x0-x31。第二个源操作数，不符合条件则将其存入Xd。 cond 条件（如下表）

扫描电镜（SEM)通常使用15KV以上的加速电压，而透射电镜（TEM)可以将其设置在60-30OkV的范围内。 与扫描电镜（SEM)相比，透射电镜（TEM)提供的 放大倍数 也相当高:透射电镜 (TEM)可以将样品放大5000万倍以上，而对于扫描电镜 (SEM)来说，限制在1-2百万倍之间。

2021年6月2日 · This review presents the basic principles and functionalities of analytical TEM techniques in characterizing emerging materials. We focus on the advanced TEM techniques that, not only for observing the atoms or lattice, but also for providing deep insights from the TEM data.

2023年6月30日 · 透射电镜，全称透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，简称TEM）是一种高分辨率的显微镜，利用电子束的透射性质来观察样品的内部结构和细节。 与光学显微镜不同，透射电镜使用电子束而不是光束，因为电子具有更短的波长，能够克服光束受到衍射限制的问题，从而提供更高的分辨率。 透射电镜如何工作？ 透射电镜（TEM）的工作原理基于电子的波粒二象性。 在透射电镜中，电子从电子枪中产生，并经过一系列的透镜系统进行聚焦。 …

2024年12月31日 · CS/HS: Carry Set/Unsigned Higher or Same: 进位标志（C）被设置，用于无符号比较（大于或等于）。 CC/LO: Carry Clear/Unsigned Lower: 进位标志（C）没有被设置，用于无符号比较（小于）。 MI (Minus): 负标志（N）被设置，表示结果为负。 PL (Plus): 负标志（N）没有被设置，表示结果为正或零。 VS (Overflow Set): 溢出标志（V）被设置。 VC (Overflow Clear): 溢出标志（V）没有被设置。 HI (Unsigned Higher): 进位标志（C）被设置且零标 …

扫描透射电镜（STEM）是一种结合了透射电镜（TEM）和扫描电镜（SEM）的电子显微镜技术。 如今，大多数透射电镜都可以切换到 “STEM 模式”，这为用户提供了很大的便利性。

扫描电镜/SEM和透射电镜/TEM作为材料形貌表征的基本手段,或是一种或是两种方式相结合出现在顶级期刊的文章中。 通常我们结合样品SEM&TEM图对其进行描述时,需要给出样品的基本形貌,如:纤维状、针状、盘形、片状…

球差校正TEM（Aberration-corrected TEM, ACTEM）能够实现接近理论极限的分辨率，对极其微小的结构细节和电子云分布进行直接观测，极大推动了材料科学、纳米科技、生命科学等领域对物质微观结构认识的深化。

2024年12月4日 · 透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope, 简称TEM），是一种把经加速和聚集的电子束透射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。

2024年1月24日 · 透射电子显微镜（TEM）允许我们深入材料的原子结构，但要捕获那完美无瑕的图像，关键在于精确操控一系列参数。 今天，让我们揭开TEM使用中的迷雾，简明地探究如何精通这项技术，确保每次都能获得清晰、准确的微观视界。 样品种类. 适用样品： TEM可以用于观察各种类型的材料，包括金属、半导体、陶瓷、生物样本、聚合物以及纳米结构。 这种多样性使得TEM成为研究材料科学、生物学和纳米技术等领域的重要工具。 样品厚度： 为了使电子束能 …