EDT技术 ug - 第一章节 Getting Start_dft流程edt-CSDN博客
2022年5月24日 · 对于compressed ATPG, 首先要使用dft -edt 来创建EDT logic，然后在patterns -scan 的context下来生成compressed test patterns. 熟悉工具 batch mode. Tessent shell的 Batch Mode 是通过dofile文件来完成的，也就是说你可以不必一句一句的写cmd，或者说你的cmd里面有循环等。你可以通过使用dofile ...
DFT专用术语解释系列（十二）：EDT - 知乎 - 知乎专栏
EDT (Embedded Deterministic Test ) 嵌入式确定性测试， 是一种测试手段，作用是将数量庞大的scan chain通过压缩、解压缩形成数量较少的scan channel并通过scan channel与外部进行交互。 通常会产生三部分结构： Decompressor （解压缩器） 、 Compactor （压缩器） 、 Bypass （旁路模块）。 2 压缩比/解压缩比. 压缩比 指的是 内部scan chains的数量与压缩后的scan channels的数量的比值。 解压缩比 指的是 解压缩后的内部scan chains的数量与scan channels 的数量的 …
DFT EDT 压缩解压缩模块：深入解析与应用指南 - CSDN博客
2024年9月26日 · EDT（Embedded Deterministic Test）作为DFT中的重要组成部分，其压缩解压缩模块在提高测试效率和降低测试成本方面发挥着至关重要的作用。 本项目详细讲解了EDT压缩解压缩模块的原理及流程，涵盖了从EDT的产生到在设计中的插入全过程，旨在帮助读者深入理 …
数字IC笔记-scan chain 压缩和解压缩 - CSDN博客
2021年9月1日 · > dft用来测试芯片质量，看是否在生产过程中，因为物理制造过程，导致芯片损坏的问题。 即不是检查芯片的功能是否正常，只检查芯片的内部连线等等，是否都正确连接到。
EDT Summary EDT is a natural extension to ATPG — Easy to learn and implement (similar flow to ATPG) — Obtains high quality tests with dramatic compression EDT supports — Reduction of test data volume and time — All fault models — All pattern types — X-handling without functional logic modification EDT is highly scalable
[DFT知识分享] ATPG之EDT-终章（解读tessent报告）_专业集成电 …
2023年10月6日 · 在mentor的edt结构中，对于非LBIST的ATPG向量，mentor中使用edt_update来将LFSR的初始种子重置为全0。具体而言，当edt_update为1时，test_clock的上升沿时会将LFSR初始化为全0，如下: 但是LBIST的LFSR相对于非LBIST缺少了external channel，所以默认初始化种子为0的操作并不一定合适哦。
DFT名词扫盲（十二）之 EDT - 哔哩哔哩
EDT (Embedded Deterministic Test ) 嵌入式确定性测试，是一种测试手段，作用是将数量庞大的scan chain通过压缩、解压缩形成数量较少的scan channel并通过scan channel与外部进行交互。 通常会产生三部分结构：Decompressor（解压缩器）、Compactor（压缩器）、Bypass（旁路模块）。 压缩比/解压缩比. 压缩比指的是内部scan chains的数量与压缩后的scan channels的数量的比值。 解压缩比指的是解压缩后的内部scan chains的数量与scan channels 的数量的比值。 …
tessent tutorial-2: 压缩逻辑EDT的插入流程 - 知乎 - 知乎专栏
配置EDT (Tessent也是利用 IEEE1687 的架构进行配置的) 自动生成EDT的配置，这个是工具默认的配置，它存储在当前session的内存里，我们把这个配置赋值给一个叫spec的变量。 根据实际design的情况，我们可以加入EDT 扫描链 相关的配置：扫描链的长度，扫描链的条数，EDT对外的扫描端口数，等等。 6. 生成EDT逻辑和ICL文件. 7. 产生综合脚本 把RTL网表生成门级网表. 二. 插入扫描链并连接EDT逻辑. 1. 启动工具. 2. 读入网表和库文件. 分离的EDT模块文件，以及插 …
DFTEDT压缩解压缩模块详解:DFT EDT 压缩解压缩模块详解
本资源文件详细讲解了DFT（Design for Test）中的EDT（Embedded Deterministic Test）压缩解压缩模块的原理及流程。 内容涵盖了EDT的产生流程以及在设计中的插入流程，帮助读者深入理解EDT技术的核心概念和应用方法。
DFT 中的 EDT (Embedded Deterministic Test) - CSDN博客
2025年1月2日 · 在 SoC 设计中， DFT (Design for Testability) 中的 Scan Chain 和 EDT (Embedded Deterministic Test) 是提高芯片可测试性和优化测试效率的重要技术。 这两者在实现方法、目标以及应用中紧密关联。 以下是对 Scan Chain 和 EDT 的关系、区别，以及其结合使用的详细介绍和应用实例。 扫描链 是一种 DFT 机制，它将设计中的触发器 (Flip-Flops, FFs) 连接为一条或多条链，用于在测试模式下加载和观察数据，从而方便地测试内部逻辑的功能。 正常模 …