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芯片测试(4)——Functional Test - CSDN博客
2023年7月18日 · 在功能测试期间,pattern被执行或应用到DUT。 如果预期的输出数据与被测设备的输出数据不匹配,则会发生功能故障。 pattern也称为测试向量或真值表。 测试向量通常表示为1和0的序列或表示逻辑电平的其他字符。 信号格式:一种描述由引脚电子驱动电路提供的输入信号的波形的方法。 例如:NRZ / DNRZ / RZ / RO /SBC。 输出频闪:输出频闪是测试系统内的时序标记,用作输出信号评估的时序参考。 许多测试系统在每个测试通道上提供单独的频闪标记, …
【PCIe】物理层电气特性--Transmitter Compliance Test - CSDN博客
Compliance 子状态的具体要求,特别是合规模式(Compliance Pattern)在传输过程中的处理方式。这个过程主要是通过 SKP Ordered Set 来验证链路的合规性,确保链路在高频率下的稳定性、可靠性和时序准确性。
半导体厂商如何做芯片的出厂测试? - 知乎
以下这张图就是open/short test原理示意图,DUT(Device Under Test)的引脚都挂有上下两个保护二极管,根据二极管单向导通以及截至电压的特性,对其拉/灌电流,然后测试电压,看起是否在设定的limit范围内。
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被測器件 - 維基百科,自由的百科全書
被測器件 (英語: device under test, DUT)或 被測裝置,又稱 在測單元 或 被測部件 (unit under test, UUT),常用於表示正處於測試階段的工業產品。 在半導體測試中,DUT表示 晶圓 或最終 封裝部件 上的特定 管芯 小片。 利用連接系統將封裝部件連接到 手動 或 自動測試設備 (ATE),ATE會為其施加電源,提供模擬信號,然後測量和估計器件得到的輸出,以這種方式測定特定被測器件的好壞。 對於晶圓來說,使用者需要將ATE用一組顯微針連接到一個個獨立 …
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半导体测试技术详解:关键术语与自动化设备-CSDN博客
2022年2月26日 · Docking一般是指ATE测试设备中与Prober(探针台)界面连接的那块板的对接方式。 Direct docking = 直接对接,这是一种不需要探针塔的接口对接方案,与传统系统对接方案对比,直接对接的特点如下: Direct Docking System 直接对接系统. Conventional System 传统系统. 11. PCB = Printed Circuit Board, (印制电路板),又称印刷线路板,是重要的电子部件,是电子元器件的支撑体,是电子元器件电气连接的载体。 由于它是采用电子印刷术制作的,故被称为“印 …
芯片测试科普 - 知乎 - 知乎专栏
Pattern向量测试及IDDQ测试方法. 上面给大家介绍了一下各种失效模式及测试原理。通过Pattern向量测试,加以电流测试为补充,可以有效地测试各种faults。 Pattern向量测试的方法