Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) detects very low concentrations of dopants and impurities. The technique provides elemental depth profiles over a wide depth range from a …

Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) is an analytical technique that detects very low concentrations of dopants and impurities. It can provide elemental depth profiles over a depth …

SIMS tutorial from EAG Laboratories includes SIMS primary ion sources, ion energy analyzers, Sputtering and elemental effects

eag是sims分析的行業標準， 提供最佳檢測限，以及準確的濃度和層結構識別。 eag 在 sims 領域的經驗和承諾的深度和範圍是無與倫比的。 eag 擁有全球範圍最廣的二次離子質譜儀（超過 …

EAG Laboratories 在材料測試服務方面擁有超過 40 年的經驗。 我們的母公司 Eurofins Scientific 是一家價值數十億美元的全球科學服務領導者，擁有超過 200,000 種經過驗證的分析方法。

SIMS（Secondary ion mass spectrometry : 二次イオン質量分析法）は極低濃度のドーパントや不純物を検出する分析手法です。 試料表面を一次イオンでスパッタし、スパッタによって放 …

2024年3月10日 · SIMS（二次イオン質量分析法）はH元素を含めた全元素を超高感度感度で分析ができる手法です。弊社ではSIMSとEAG Laboratoriesが開発した化合物半導体の分析に最 …

埃文思分析实验室是目前全球规模最大、分析手段最齐全的材料分析、失效分析实验室，在全球共有20家分析实验室，拥有最为齐全的实验设备和一批经验非常丰富的技术人员，在业界已有 …

二次离子质谱（sims）可检测极低浓度的掺杂剂和杂质。 该技术提供了从几埃 (Å) 到几十微米 (µm) 的广泛深度范围内的元素深度剖面。 样品表面用一束初级离子（通常是 O2+ 或者Cs+) 而 …

Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS) is a surface analytical technique that focuses a pulsed beam of primary ions onto a sample surface, producing secondary ions …