在EBSD数据分析中，GOS(grain orientation spread) map常被用来表征金属材料组织的局部应变，利用这种局部应变我们不仅可以区分晶粒内应变的大小，还能用于区分部分再结晶组织中的各晶粒是否为再结晶长大的晶粒，从而表征部分再结晶组织。

2020年10月19日 · gos的临界值表示晶粒发生了再结晶，其临界值是第一个峰值的最后一个点。gos大意味着晶格畸变严重且位错密度高，而gos低的晶粒则具有均匀的应变分布。现在很多文献中都应用gos图来判断晶粒的变形和再结晶程度。

系列选集链接： https://www.bilibili.com/video/av74703370/ 这个视频专辑主要是详解Oxford Instruments公司的EBSD数据分析软件Channel 5， 结合多个实例（比如我发在Acta Materialia的数据）帮助所有的小伙伴们从EBSD数据处理小白到高手，让所有在苦苦挣扎的小朋友们挖掘出更有意义的数据！ Associate Professor at the University of Southampton. 英国南安普顿.

What is the difference between the average intragrain misorientation (AMIS) and the grain orientation spread (GOS) for EBSD analysis? And how can I obtain GAM, GOS and AMIS maps with this...

晶粒取向散布图（Grain Orientation Spread，GOS），这个有价值的初级应变分析工具显示了晶粒大部分的变形情况——显示了其空间分布和数值峰值。 这是一个全面的晶粒分类工具：对于测试区域内的每一个晶粒， GOS 计算晶粒内每一个像素与晶粒平均取向之间差值。

EBSD数据分析——OIM生成GOS map中如何用不同颜色表示再结晶、回复和变形区域

背散射电子衍射装置 (EBSD)：是扫描电子显微镜 (SEM)的附件之一，它能提供如晶间取向、晶界类型、再结晶晶粒、微织构、相辨别和晶粒尺寸测量等完整的分析数据。 EBSD数据来自样品表面下10-50nm厚的区域，且EBSD样品检测时需要倾转70°，为避免表面高处区域遮挡低处的信号，所以要求EBSD样品表面“新鲜”、清洁、平整、良好的导电性、无应力等要求。 EBSD的具体分析功能:一种物相鉴定的新方法；标准的微区织构分析方法；具有大样品区域统计的特点；与能谱结 …

晶粒取向散布图（Grain Orientation Spread， GOS ），这个有价值的初级应变分析工具显示了晶粒大部分的变形情况——显示了其空间分布和数值峰值。这是一个全面的晶粒分类工具：对于测试区域内的每一个晶粒，GOS计算晶粒内每一个像素与晶粒平均取向之间差值。

利用EBSD技术分离“宏区”中的初生α和次生α相，发现攒簇的初生α相和次生α相的c轴有近乎一致的取向，从而造成整体具有非常锋锐的织构（figure 2）。结合EBSD技术的表征和它的加工过程，Gey将“宏区”的形成归结于2个原因：

2024年6月16日 · ebsd分析可以很直观地表征金属以及合金的再结晶程度，并能对不同部分进行定量统计分析，同时还可以得到晶粒度、大小角度晶界等一系列相关信息，非常方便。