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EBSD 全称 电子背散射衍射技术，是用于在扫描电子显微镜内进行毫米级到纳米级定量微观组织分析的技术。 扫描电子显微镜 (SEM) 是一种用于高分辨率微区形貌分析的大型精密仪器 。具有景深大、分辨率高, 成像直观、立体感强、放大倍数范围宽以及待测样品可在三维空间内进行旋转和倾斜等特点。另外具有可测样品种类丰富, 几乎不损伤和污染原始样品以及可同时获得形貌、结构、成分和结晶学信息等优点。目前, 扫描电子显微镜已被广泛应用于 生命科学 、物理学、化学、 …

该技术也被称为电子背散射衍射 (Electron Backscattered Diffraction，简称EBSD)或 取向成像显微技术 (Orientation Imaging Microscopy，简称OIM) 等。 EBSD的主要特点是在保留 扫描电子显微镜 的常规特点的同时进行空间分辨率亚微米级的衍射（给出结晶学的数据）。 EBSD改变了以往织构分析的方法，并形成了全新的科学领域，称为“显微织构”—将显微组织和晶体学分析相结合。 与“显微织构”密切联系的是应用EBSD进行相分析、获得界面（晶界）参数和检测塑性应变。

仪器型号美国EDAX—TSL，牛津Nordly max3. 项目简介： EBSD具体分析功能： 1，微观组织分析：晶粒尺寸、均匀性、孪晶的体积分数、再结晶晶粒以及亚晶、晶界特性分析、相鉴定、相分布等；

2024年1月6日 · 电子背散射衍射（Electron Back Scatter Diffraction, EBSD）是一项在扫描电镜中获得样品晶体学信息的技术。 EBSD利用背散射电子衍射，获取晶体取向（crystal orientation）、晶界取向差（grain boundary misorientations），物相等晶体学信息。 EBSD保留了扫描电子显微镜的特点，与金相、XRD、SEM等表征手段相比，其可获取更为丰富、精度更高的晶体学信息，从而可对样品表面的特征进一步分析。 图1. 02. 电子背散射衍射（EBSD）基本原理. 当入射电 …

背向散射电子衍射技术 （Electron Back Scatter Diffraction, EBSD）是一种利用衍射电子束来鉴别样品结晶学方位的技术。 挂载在扫描式电子显微镜（Scanning Electron Microscopy, SEM）中，倾斜角度约70度，加速后的电子束射入样品中，产生反弹的背向散射电子，经过表面晶体结构衍射，携带着样品表面的晶粒方位的资讯，进入探测器中，借此判断其每一颗晶粒的方向性。 在知道每一颗晶粒的方位后，因此可用在判断晶界（Grain boundary）、相鉴别（Phase …

利用EBSD技术分离“宏区”中的初生α和次生α相，发现攒簇的初生α相和次生α相的c轴有近乎一致的取向，从而造成整体具有非常锋锐的织构（figure 2）。 结合EBSD技术的表征和它的加工过程，Gey将“宏区”的形成归结于2个原因： （1）锻造过程中金属沿着轴向的流动，会使α板条的沿着流动方向排列；（2）如果高温变形过程中α与β保持Buegers关系，则随后析出的次生αs与初生α具有相同的取向；这2个原因共同导致了“宏区”的形成。 然而国际学者对此观点还是比较质疑的， …

电子背散射衍射仪EBSD：最高像素分辨率:640x 480；扫描和标定速度: 1000点/秒；取向精度≤0.1°；具有能谱仪与EBSD一体化同时扫描连用功能。 原位加载台：温度最低-100℃，最高800℃，并具备控温条件下的力加载功能；最大载荷5000N，测试精度1N，双向加载，具备拉伸-压缩疲劳试验功能。

2024年5月28日 · 电子背散射衍射（Electron Back Scatter Diffraction, EBSD）是一项在扫描电镜中获得样品晶体学信息的技术。 EBSD利用背散射电子衍射，获取晶体取向（crystal orientation）、晶界取向差（grain boundary misorientations），物相等晶体学信息。 EBSD保留了扫描电子显微镜的特点，与金相、XRD、SEM等表征手段相比，其可获取更为丰富、精度更高的晶体学信息，从而可对样品表面的特征进一步分析。 图1. 02电子背散射衍射（EBSD）基本原 …

电子背散射衍射分析技术（EBSD）是一种在扫描电子显微镜（SEM）上应用的重要材料表征技术，它通过分析从样品表面反射回来的高能电子产生的衍射花样来获取晶体微区的取向和结构信息。 自20世纪90年代以来，EBSD技术已经得到了显著发展，并在材料科学领域中广泛应用。 以下是对EBSD技术的详细介绍和总结： 高空间分辨率：能够实现亚微米级别的晶体取向和结构分析。 快速数据采集：数据采集速度可达每小时36万点以上。 高分辨率：空间分辨率和角分辨率分别可 …