EDT技术 ug - 第一章节 Getting Start - CSDN博客
2022年5月24日 · EDT技术是通过减少每一支pattern的数据，而不是说减少pattern的生成，因此会有一些additional test patterns 以及additional shift cycles 来降低了整体的压缩效果。 因此如 …
第一章：Getting Started_tessent edt-CSDN博客
2023年8月30日 · Embedded Deterministic Testing（EDT)是被Tessent TestKompress使用的技术。EDT技术是基于传统的，确定性ATPG，并使用相同的故障模型以使用常见的流程获得相似 …
DFT专用术语解释系列（十二）：EDT - 知乎 - 知乎专栏
EDT (Embedded Deterministic Test ) 嵌入式确定性测试， 是一种测试手段，作用是将数量庞大的scan chain通过压缩、解压缩形成数量较少的scan channel并通过scan channel与外部进行交互 …
第三章 测试压缩技术 - 几何0814 - 博客园
2023年6月6日 · edt时钟：测试时钟，用来驱动edt内部解压逻辑和掩膜逻辑内部的寄存器，和普通移位时钟不同，但可通过他特定逻辑产生移位时钟； EDT扫描输入：扫描数据输入；；
EDT Summary EDT is a natural extension to ATPG — Easy to learn and implement (similar flow to ATPG) — Obtains high quality tests with dramatic compression EDT supports — Reduction …
第四章节Creation of the EDT Logic (持续更新) - CSDN博客
2022年6月6日 · 文章目录 本系列介绍的是Tessent的EDT（Embedded Deterministic Testing）技术。 参考为EDT tessent的 TestCompress 文档。 本系列是对ug的个人理解和知识要点笔 …
Embedded deterministic test | IEEE Journals & Magazine - IEEE …
2004年5月4日 · Abstract: This paper presents a novel test-data volume-compression methodology called the embedded deterministic test (EDT), which reduces manufacturing test …
DFT名词扫盲（十二）之 EDT - 哔哩哔哩
EDT (Embedded Deterministic Test ) 嵌入式确定性测试，是一种测试手段，作用是将数量庞大的scan chain通过压缩、解压缩形成数量较少的scan channel并通过scan channel与外部进行交互 …
Using EDT Test Points to reduce test time and cost
2015年9月24日 · One new method for scan test that fits the bill as a potential new standard of practice is called “Test Points for embedded deterministic test” (EDT). The use of test points to …
Embedded deterministic test (EDT) architecture.
EDT scheme consists of logic embedded on a chip and a new deterministic test pattern generation technique. As Figure 1 shows, the EDT logic, inserted along the scan path outside …
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