2025年1月10日 · ESI（Essential Science Indicators，基本科学指标）是科睿唯安公司基于Web of Science（SCIE/SSCI）所收录的全球12000多种学术期刊的1000多万条文献记录而建立的计量分析数据库，是评价世界各国研究机构的学术水平及在国际上影响力的权威检索工具之一。

Combined scanning tunneling microscopy (STM) and noncontact atomic force microscopy (nc-AFM) [1] has recently turned out to be a powerful tool in many aspects; notably achieving superior spatial resolution [2], controlling the charge state of single atoms [3], or enhanced chemical resolution of surface atoms [4].

Essential Science Indicators 数据库反映了研究领域的新兴科学趋势以及具有影响力的个人、机构、文章、期刊以及国家和地区。 通过基于全球 12,000 余种期刊的超过 1200 万篇文章提取的科学趋势统计数据，Essential Science Indicators 深入挖掘您需要的资料，让您能有效地分析和评价研究成绩，发现重要趋势，评定优秀研究人员排名，以及评估潜在的雇员和合作方。 Essential Science Indicators 以 10 年为文件滚动周期，每两个月更新一次。 Essential Science …

EC-AFM shows advantages for the in situ characterization of the cathode/electrolyte interface, providing high resolution morphological, mechanical, and electrical images, in a large range of length scales, from nanometers (primary particle) to tens of micrometers (secondary particle).

2024年12月26日 · Nanoscope Analysis‌是一款专门用于原子力显微镜(AFM)数据处理的软件，它提供了多种图像处理和分析功能，包括实用的游标分析、颜色表编辑、线性验证等。

使用后退火工艺由DMAc / NMP助溶剂制成的PSC显示出17.38％的最佳功率转换效率（PCE），与基于DMF /二甲基亚砜（DMSO）的器件相比，该器件的功率转换效率提高了约10％。 DMAc / DMSO助溶剂。 值得注意的是，即使不对基于DMAc / NMP助溶剂的器件进行任何后退火处理，也可以实现17.09％的效率。 但是，在相同条件下，基于DMAc / DMSO助溶剂的器件只能获得3.81％的效率。 观察到的现象主要是由于以下事实：一旦抗溶剂在室温（RT）滴在薄膜上， …

AFM全称Atomic Force Microscope，即 原子力显微镜 ，它是继 扫描隧道显微镜 （Scanning Tunneling Microscope）之后发明的一种具有原子级高分辨的新型仪器，可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测，或者直接进行纳米操纵。

学术期刊 Advanced Functional Materials：期刊短名：AFM, Advanced Materials for Optics and Electronics，期刊 ISSN: 1616-301X。 作为顶级材料科学期刊，ADVANCED FUNCTIONAL MATERIALS 每周报道材料科学各个方面的突破性研究，包括纳米技术、化学、物理和生物学。

Our fully compatible low-temperature atomic force microscope (AFM) was introduced in 2007 allowing for simultaneous measurements of force and tunneling current without cross-talk using constant frequency or constant height control. Flyer - LT-STM/AFM. Performed experiments demonstrate the ultimate performance of CreaTec LT-STM/AFM System: STS ...

For AFM analysis, TiO 2 samples were diluted with 50% (v/v) water/ethanol solution and then dispersed by strong sonication process. Samples for AFM measurements were prepared by loading a drop of diluted solution of the TiO 2 nanodisk powder or Degussa P25 on the mica substrate. Atomic force microscopy (AFM) measurement