fei 扫描电子显微镜 (sem) 以精确聚焦的 电子束 扫描样品表面，然后借助各种探测器检测电子束-样品相互作用结果，以此生成图像。 FEI SEM 既可工作于 高真空 也可工作于 低真空 模式，既可使用提供表面信息的的 二次电子 探测器也可使用提供成分信息的 背散射 ...

The FEI Tecnai G2 F20 X-TWIN Transmission Electron Microscope has a field-emission gun (FEG) for high brightness and coherency, STEM imaging with both EDS and EELS analytical analysis capabilities, and CCD camera for standard TEM imaging. The Tecnai specifications are …

FEI Tecnai G2 F30场发射透射电子显微镜产自美国FEI公司。 本设备配备附件主要有：Gatan公司ultrascan CCD，高角环形暗场(HAADF)探测器，Oxford公司EDAX成分分析系统，Gatan公司后置式电子能量损失谱(PEELS)系统。

The Tecnai F20 microscope is a field emission 200kV S/TEM with an X-TWIN objective lens and high brightness field emission electron gun (FEG) optimized for analytical work. This objective lens allows a 40 degree tilt with a standard low-background double tilt holder and, with the tomography holder, allows +/-70 degrees of tilt.

The 200kV FEI monochromated F20 UT Tecnai is designed to produce optimum high resolution performance in both TEM and STEM. In addition, the incorporation of a monochromator into the gun permits electron energy loss spectroscopy to be …

2017年5月24日 · 仪器型号：FEI TECNAI G2 F20. 生产厂商：美国 FEI公司. 1、主要功能及应用范围： 该仪器配备了HAADF附件及三维重构样品杆。 能获取TEM明场、暗场像、高分辨像、STEM模式下的高角环形暗场像和选区电子衍射；并获取一系列三维重构图片，利用三维重构软件进行样品的重构和分析。...

Tecnai G2 F30 是一台真正多功能、多用户环境的 场发射透射电子显微镜 。 该仪器将各种透射电镜技术（包括TEM、EFTEM、STEM、 EDS/EELS频谱成像 等）进行方便灵活地有机组合，形成了强大的分析功能，从而在同类型仪器中独占鳌头。

FEI Tecnai™ 透射电子显微镜 (TEM) 旨在为生命科学、材料科学、纳米技术以及半导体和数据存储行业提供真正的通用成像和分析解决方案。 Tecnai G2 系列将现代技术与科学界极富创新能力且严格的要求完美结合起来，而且该产品系列中包括将近 20 款型号。 保器 (包品生卡科学与临床医学信器、环地检测仪器、化学与材料业种保器,南量与控制仪器)、实装室设备、研发与制验配材、生物技术制品 (药品除外)及其配喜虎用软件批发 (详见许可证)、网上零售 (大家商品除外);国金代 …

The Tecnai T12 microscope combines all imaging, diffraction, and analytical techniques at good spatial resolution and detection efficiency. Application-specific modes include: Bright- and dark-field imaging; TEM microprobe and nanoprobe analysis; …

2024年3月9日 · Tecnai F20是场发射冷冻透射电镜，配备gatan626冷冻样品杆。 具备简单的点击式成像操作，可高效进行单颗粒分析和断层扫描的样品筛选。 配置参数