FEI公司 - 百度百科
fei 扫描电子显微镜 (sem) 以精确聚焦的 电子束 扫描样品表面，然后借助各种探测器检测电子束-样品相互作用结果，以此生成图像。 FEI SEM 既可工作于 高真空 也可工作于 低真空 模式，既 …
Scanning Electron Microscopes | SEM | Thermo Fisher Scientific …
Since the introduction of electron microscopes in the 1930s, scanning electron microscopy (SEM) has developed into a critical tool within many research fields, spanning everything from …
FIB-SEM聚焦离子束扫描电子显微镜 | 双束扫描电镜 | 赛默飞
DualBeam 聚焦离子束扫描电子显微镜 (FIB-SEM) 仪器通过将 FIB 的精确样品修饰与 SEM 的高分辨率成像相结合，正好完全这类数据。 赛默飞世尔科技是 FIB-SEM 技术的行业领导者，在 …
SEM扫描电镜（扫描电子显微镜） | 赛默飞 | Thermo Fisher …
高分辨率SEM扫描电镜. 如果您追求极致的空间分辨率和图像衬度，您需要了解我们先进的Verios和Apreo系列SEM扫描电镜。这两款场发射扫描电镜致力于获取更多的电子信号和极限 …
Helios 660 SEM/FIB - Rice University
The FEI Helios NanoLab 660 DualBeam system makes milling, imaging, analysis, and sample preparation easy and efficient. FIB/SEM capabilities highlight: Focused ion beam (FIB), 0.5-30 …
FEI SEM - Center for Microscopy and Imaging
Description: The SEM is used to examine surface features and to collect compositional information of objects and materials at a resolution of 3-10 nm. The FEI Quanta 450 at Smith …
FEI/Philips Sirion Field Emission SEM | Center for Electron …
The FEI Sirion Scanning Electron Microscope (SEM) is a high-resolution instrument with an electron beam voltage range from 200V – 30kV. The field-emission electron source (FEG) and …
赛默飞（原FEI）扫描电镜SEM参数 - 分析测试百科网
赛默飞电子显微镜（原FEI） 型号 Apreo 2 SEM; 中文简称 Apreo 2 SEM场发射扫描电子显微镜; 英文简称 Apreo 2 SEM Scanning Electron Microscope; 产地 捷克; 上市时间 2014年
FEI | 高性能显微镜工作流程解决方案
fei 的创新型显微镜和应用专业知识可帮助客户找到有意义的方案，以更快取得突破性发现、提高生产力并最终改变世界。
场发射扫描电子显微镜 (FE-SEM) : 日立高新技术在中国
su3900/su3800 se系列作为fe-sem产品，配置超高分辨率与观察能力，而且不像部分sem产品，受安装样品尺寸与重量的限制，此系列可以通过简单的操作实现数据采集。