时序分析基本概念介绍——花一样的“模式” - CSDN博客
2017年12月25日 · 本文介绍了时序分析中的关键概念——模式，包括Function模式、Scan Shift、DC和AC Capture、At Speed MBIST、Boundary Scan、Macro Test以及IDDQ。 这些模式在 …
时序分析基本概念介绍——花一样的“模式” - 搜狐
2017年12月25日 · capture mode通常分为低速和高速模式，分别对应DC capture和AC capture. Capture模式下，Scan enable信号接0，扫描寄存器工作在正常模式下，这时候开始检 …
ICC - MCMM - 可达达鸭 - 博客园
2023年8月17日 · 学习中首先考虑三个scenario，并指定了两种模式（func和scan）的时序约束sdc文件，以及包含PVT Corner的.db文件和包含RC Corner的TLUPLUS文件。 设置工 …
为什么在 cts 过程中 func clock 和 scan clock 经常长不齐？ - いつ …
2020年3月16日 · 1） 只开 scan scenario 去做 cts，让所有的sink点都长齐，这种方法显然得不偿失，白白增加了大量的clock buffer，不可取. 2） 只开 func scenario 去做 cts，此时 clk1 和 …
VLSI芯片电路测试分类testMode、模式、时钟复位输入输出_芯片device test mode …
2023年5月24日 · atb_mode就是ATE机台测试，需要用到机台的都可以包在这个mode下。 atb_mode可以完全包含ptest_func_mode，还可以包含buruin的一部分。 比如burunin测试分 …
innovus如何分步长func和dft时钟 - 知乎 - 知乎专栏
在Innovus工具中，分步处理功能时钟（func clock）和DFT时钟（如扫描测试时钟）需要结合设计模式（Function Mode和DFT Mode）进行约束定义、时钟树综合（CTS）和时序分析。
多模式与多场景时序分析约束脚本详解-CSDN博客
2021年12月4日 · # test mode 的时钟和 func mode的时钟可能不一样而且一些macro cell 的时钟可能和主设计的时钟很多时候是不一样的,都要单独指定时钟. #下面定义了6个clock 包括4个 …
SDC（5）——指定常数信号（set_case_analysis）、中断时序 …
例1: 如果芯片中具有 DFT逻辑，则在正常功能模式下，芯片的TEST引脚将一直为0，可以这么设置： 例2： 当设计有多种功能模式，但只分析其中一种时，进行如下设置，工具只分 …
Timing constriants difference between functional and test m
2008年7月28日 · For example: in functional mode, data is exchanged between clock domain A and clock domain B. But in test mode, they are separate scan chains, so all paths form A <-> …
静态时序分析里的capture，shift，cdc,func,mbist,DFT怎么理解?
capture, shift, func, mbist, DFT应该都是DFT即Design for Testability里的内容. capture，shift是scan-chain D Filp-Flop的两种工作模式，func好像是function clock，也就是正常工作模式（而 …
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