EBSD数据分析教程——OIM analysis如何用GOS map表征部分再结 …
在EBSD数据分析中，GOS (grain orientation spread) map常被用来表征金属材料组织的局部应变，利用这种局部应变我们不仅可以区分晶粒内应变的大小，还能用于区分部分再结晶组织中的 …
你还不会利用EBSD定性或定量的分析位错密度？请详读这篇文章 – …
2020年10月19日 · gos的临界值表示晶粒发生了再结晶，其临界值是第一个峰值的最后一个点。gos大意味着晶格畸变严重且位错密度高，而gos低的晶粒则具有均匀的应变分布。现在很多 …
金鉴李工：巧用EBSD解决问题——表征晶粒尺寸和晶界
电子背散射衍射（ebsd）是分析晶粒尺寸的理想技术，可以提供包括晶粒尺寸、晶界特征和织构定量等微观信息。 1 晶粒尺寸和晶粒参数 为了准确测量晶粒尺寸，检测到所有晶界是非常必要的。
金鉴李工：巧用EBSD解决问题——表征晶粒尺寸和晶界 - 知乎
晶粒取向散布图（Grain Orientation Spread， GOS），这个有价值的初级应变分析工具显示了晶粒大部分的变形情况——显示了其空间分布和数值峰值。 这是一个全面的晶粒分类工具：对 …
EBSD数据分析——AZtecCrystal如何生成GOSmap并导出到origin …
EBSD数据分析——OIM生成GOS map中如何用不同颜色表示再结晶、回复和变形区域
第12讲 用GOS快速提取大数据EBSD中的再结晶晶粒_哔哩哔哩_bilibili
系列选集链接：https://www.bilibili.com/video/av74703370/这个视频专辑主要是详解Oxford Instruments公司的EBSD数据分析软件Channel 5， 结合多个实例（比如我发在Acta …
In EBSD analysis, how to use KAM, GAM and GOS to
What is the difference between the average intragrain misorientation (AMIS) and the grain orientation spread (GOS) for EBSD analysis? And how can I obtain GAM, GOS and AMIS …
干货 | EBSD晶体学织构基础及数据处理！ - 知乎专栏
电子背反射衍射技术简称ebsp或ebsd ·装配在SEM上使用，一种显微表征技术 ·通过自动标定背散射衍射花样，测定大块样品表面（通常矩形区域内）的晶体微区取向
【科研干货】背散射电子衍射装置 (EBSD)——应用实例
背散射电子衍射装置 (EBSD)：是扫描电子显微镜 (SEM)的附件之一，它能提供如晶间取向、晶界类型、再结晶晶粒、微织构、相辨别和晶粒尺寸测量等完整的分析数据。 EBSD数据来自样品 …
（神器+干货）EBSD技术在材料科学研究中的妙用 - 知乎
ebsd技术是材料科学的重要表征手段之一，已广泛应用于多个研究领域。 从近年来重要期刊（如 Acta，MSEA，JAC，MD等）所发表文章的内容来看，EBSD表征对文章质量的提高起着重要 …