2021年5月25日 · The crystal structure was characterized by X-ray diffraction (XRD) analysis, which revealed the phase change upon acid leaching, identified by new peaks located at ~38° and ~49° (2θ) for HLM ...

2016年4月1日 · The XRD pattern of KLM and the Raman spectrum of HLM were shown in Fig. 3 a and b. The XRD pattern of KLM showed similar result to HLM. Raman peaks of HLM at 590 cm −1, 477 cm −1 and 424 cm −1 which corresponded to the A 1g vibration, E g vibration of R–3 m symmetry and the super-lattice vibration of Li 2 MnO 3 phase, respectively [22].

2015年4月1日 · X-ray diffraction (XRD) is a powerful nondestructive technique for characterizing crystalline materials. It provides information on structures, phases, preferred crystal...

2024年7月18日 · This study investigates the enhancement of hydraulic lime mortar (HLM) using varying contents of metakaolin (MK) to improve its application in the restoration of historic buildings. Samples from historic structures were analyzed, and the effects of different MK contents on the physical and mechanical properties of HLM were examined.

XRD全称X射线衍射（X-RayDiffraction），利用X射线在晶体中的衍射现象来获得衍射后X射线信号特征，经过处理得到衍射图谱。 利用谱图信息不仅可以实现常规显微镜的确定物相，并拥有“透视眼”来看晶体内部是否存在缺…

mechanical properties of HLM were examined. The reaction mechanism and microstructural changes were evaluated using XRD and SEM analysis. The results indicated that increasing MK levels in HLM

XRD （X-ray Diffraction）中文全称是 X射线衍射，是一种快速、准确、高效的材料无损检测技术。 作为一种表征晶体结构及其变化规律的手段，其应用遍及材料、化学、生物、医药、陶瓷、冶金、矿产等诸多领域。 但大多数新同学对于XRD的测试原理一知半解，对其应用停留在简单的物相鉴别阶段，对其不同样品的测试要求和注意事项也不甚清楚。 在此，我们用最简洁易懂的语言对XRD 从原理到应用 进行了详细的总结，希望能给大家一些帮助。 2.1 X射线是什么？ 1895年，德 …

2024年11月14日 · XRD （X-ray Diffraction）中文全称是X射线衍射，是一种快速、准确、高效的材料无损检测技术。 作为一种表征晶体结构及其变化规律的手段，主要应用为物相分析、晶体织构分析、应力测试等。 XRD可以测量块状和粉末状的样品，它所获取的所有信息都基于材料的结构，是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。 当某物质 (晶体或非晶体)进行衍射分析时,该物质被X射线照射产生不同程度的衍射现象,物质组成、晶型、分子内成键方式、分子的构型、构象等 …

X-ray diffraction (XRD) is a powerful nondestructive technique for characterizing crystalline materials. It provides information on structures, phases, preferred crystal orientations (texture), and other structural parameters, such as average …

高分辨率 X 射线衍射 (HRXRD) 是一种强大的无损检测方法，其研究对象主要是单晶材料、单晶外延薄膜材料以及各种 低维半导体异质结构。 广泛用于单晶质量、外延薄膜的厚度、组分、晶胞参数、缺陷、失配、弛豫、应力等结构参数的测试。 现 代HRXRD与常规XRD的区别主要体现在：（1）高度平行且高度单色的高质量X射线；（2）不仅要测试倒易格点的位置（角度）， 还要测试倒易格点的形状（缺陷）；（3）更高的理论要求-动力学理论。