2020年6月29日 · 几乎任何与材料相关的领域都要用到透射电镜，而最常用的三大透射电镜是：普通透射电子显微镜（TEM）、高分辨透射电子显微镜（HRTEM）和扫描透射电子显微镜 (STEM)。 本期内容介绍三者的殊与同。 重点解析在科研中如何适时的运用这三者？ TEM： 这里的TEM专指普通分辨率TEM。 其主要用来观察材料的微观形貌和结构，比如催化剂粉末的轮廓外形，纳米粒子的尺寸和形貌。 一般普通TEM的分辨率在几个纳米数量级。 下图1（多相粉末催化剂）、 …

在透射电镜中当高能电子束入射到薄试样上时，在 物镜的后焦平面 上将产生电子衍射花样。 该衍射花样经过中间镜和投影镜放大并显示在观察屏上，最终被 CCD相机 记录，展示在显示器上。 下图给出了透射电镜电子衍射的几何原理示意图，即 爱瓦尔德（Ewald）球 结构图。 一个简单的单晶体电子衍射花样是一个通过倒易点阵原点的二维倒易平面在观察屏上的投影放大图。 图中的中心斑000即是直射束的位置，在衍射花样上衍射斑hkl相当于中心斑000的矢量用Rhkl 表示。 倒易 …

首先需要弄清楚TEM可用于哪些用途，一般有两方面的目的：一是查看形貌和高倍放大固体材料内部缺陷；其次，结合电子衍射技术（SAED）进一步分析了试样晶体结构，晶相组成。 关于看形貌只需选择美观、清晰能够表现出材料形貌特征的图即可，一般其比例尺在20-200nm。 对晶体结构及暴露晶面的分析可分为通过HRTEM（比例尺≤5nm）进行晶格间距的分析和通过SAED对晶体结构和晶相的判断，具体步骤如下： 1、对HRTEM分析. 1.标卡的标定. 打开Digital …

Selected area (electron) diffraction (abbreviated as SAD or SAED) is a crystallographic experimental technique typically performed using a transmission electron microscope (TEM). It is a specific case of electron diffraction used primarily in material science and solid state physics as one of the most common experimental techniques.

Both selected area electron diffraction (SAED) and XRD signals originate from the crystal structure of the material being investigated. Accordingly, they are related to each...

2010年12月25日 · 审稿人说的没错，但是HR-TEM晶格条纹在orientation out of zone-axis条件下不出现，和我们提出的“空心结构是不完美的单晶”以及上面的SAED标记有和关系吗？二者矛盾吗？

有电镜的原始文件的话，透射的软件可以给出强度分布图，比如DM软件一类的，其实没多大用，可以用来精确一些的确定晶格宽度一类的，不放也可以的，标定的话建议用晶体模拟软件，比如crystal maker一类的，模拟出和你 ... 问题1：图一和图二是文献上的石墨烯SAED和强度图，我想问下这个强度图（文献2）是用什么软件做出来的。 对应的衍射点强度有什么说法。 问题2：衍射1和衍射2是我的样品的衍射花样，是石墨烯的吧？ 上面的亮点怎么标号，如文献1上面的1210 …

几乎任何与材料相关的领域都要用到 透射电镜，而最常用的三大透射电镜是：普通透射电子显微镜（TEM）、 高分辨透射电子显微镜 （HRTEM）和扫描透射电子显微镜 (STEM)。 本期内容介绍三者的殊与同。 重点解析在科研中如何适时的运用这三者？ 透射电镜TEM的工作原理. 此处TEM特指普通分辨率TEM。 它主要用于观测物质的微观形貌与组织，如催化剂粉末轮廓外形、纳米粒子大小与形态等。 通常常用TEM分辨率为几纳米量级。 下图1（多相粉末催化剂）、图2（纳米晶） …

2023年3月28日 · 几乎任何与材料相关的领域都要用到透射电镜，而最常用的三大透射电镜是：普通透射电子显微镜（TEM）、高分辨透射电子显微镜（HRTEM）和扫描透射电子显微镜 (STEM)。 本期内容介绍三者的殊与同。 重点解析在科研中如何适时的运用这三者？ 透射电镜TEM的工作原理. 此处TEM特指普通分辨率TEM。 它主要用于观测物质的微观形貌与组织，如催化剂粉末轮廓外形、纳米粒子大小与形态等。 通常常用TEM分辨率为几纳米量级。 下图1（多相粉末催化 …

Similarly, selected area electron diffraction (SAED), also called electron diffraction, is a method performed in TEM, which measures the lattice parameters, crystal structure, and extent of crystallinity of nanoparticles from the diffraction technique, in which the sample is targeted with a parallel beam of high energy electrons.