2023年10月8日 · 几乎任何与材料相关的领域都要用到 透射电镜，而最常用的三大透射电镜是：普通透射电子显微镜（TEM）、 高分辨透射电子显微镜 （HRTEM）和扫描透射电子显微镜 (STEM)。 本期内容介绍三者的殊与同。 重点解析在科研中如何适时的运用这三者？ 透射电镜TEM的工作原理. 此处TEM特指普通分辨率TEM。 它主要用于观测物质的微观形貌与组织，如催化剂粉末轮廓外形、纳米粒子大小与形态等。 通常常用TEM分辨率为几纳米量级。 下图1（多 …

2022年6月21日 · To overcome these limitations and enable tomographic reconstruction even in low-dose sparse-view conditions, here we present an unsupervised deep learning method for HAADF-STEM-EDX tomography. Specifically, to improve the EDX image quality from low-dose condition, a HAADF-constrained unsupervised denoising approach is proposed.

2021年1月1日 · Atomically-resolved quantitative chemical mappings obtained experimentally from HAADF-STEM and EDX. The mappings reveal that interfaces are not continuously graded, but consist of monolayers of distinct compositions. Using both the HAADF contrast and strain it is possible to deduce the composition of arbitrary quaternary alloys.

2023年11月16日 · 扫描透射电子显微镜是透射电子显微镜的一种，近几年随着球差校正器的问世，扫描透射电子显微镜的分辨率达到亚埃级，结合能量分辨率为亚电子伏特的电子能量损失谱，可以对材料进行高空间分辨率及高能量分辨率的微结构和成分分析。 本文会为大家着重介绍扫描透射电子显微镜的发展历程和工作原理，重点介绍高角环形暗场像的成像机理以及基于高角环形暗场像对材料结构和成分进行分析的原理和应用；电子能量损失谱的成谱过程、谱的特征及其在材料 …

2023年9月28日 · X 射线能谱（ Energy-dispersive X-ray spectroscopy, EDS） 是微区成分分析最为常用的一种方法，其物理基础是基于样品的特征 X 射线。 当样品原子内层电子被入射电子激发或电离时，会在内层电子处产生一个空缺，原子处于能量较高的激发状态，此时外层电子将向内层跃迁以填补内层电子的空缺，从而释放出具有一定能量的特征 X 射线。 图1. EDS 原理示意图. 特征 X 射线是从试样 0.5~5μm深处发出的，它的波长与原子序数之间满足莫塞莱定律： 不同的 …

在自然科学中，越来越多地使用高角度环形暗场（HAADF）扫描透射电子显微镜（STEM）数据来研究3D材料，因为它减少了在明场TEM数据中看到的布拉格衍射的影响。 通常，层析重建是通过直接对数据应用滤波反投影（FBP）或同时迭代重建技术（SIRT）来进行的。 由于HAADF-STEM层析成像是一种具有低信噪比的有限角度层析成像模式，因此这些方法会在重建体积中导致大量伪像。 在本文中，我们为HAADF-STEM层析成像开发了基于模型的迭代重建算法。 我们 …

HRTEM 是近似平行光照射样品，电子束是静止的，STEM HAADF 扫描透射 的高角度环形暗场像，是探头最外面一圈，透射电子偏转角度较大，是携带了形貌信息和组分信息的，跟材料的原子序数有关系，原子序数大的地方亮。 TEM 就只是个影子，完全没有立体感的投影，特别高倍看不明显，低倍区别很大。 当然信噪比可能TEM 甚至会比STEM 好一点。

高角度环形暗场扫描tem（stem-haadf）和能量色散x射线光谱（stem-edx）模式同时用于提取有关样品的3d互补多分辨率信息。 为STEM-HAADF采集选择的小像素尺寸和角度步长会产生有关侧壁粗糙度和砷簇平均体积的可靠信息。

2014年9月15日 · 高角环形暗场扫描透射（HAADF-STEM）原子成像技术. Movie 1. Interaction between specimen and electron. Movie 2. Schematic of an annular detector in STEM. 1. Z. R. Liu, J. H. Chen*, S. B. Wang, D. W. Ding, M. J. Yin, C....

2020年5月25日 · Atomically, resolved EDX and HAADF imaging shows that the usual CuPt-type ordering is further modulated along the [001] growth axis with a period of three lattice constants. These distinct GaAsBi samples exemplify the variety of Bi distributions that can be achieved in this alloy, shedding light on the incorporation mechanisms of Bi atoms and ...