X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) is a surface-sensitive quantitative spectroscopic technique that measures the very topmost 50-60 atoms, 0.01 um, 5-10 nm of any surface. It belongs to the family of photoemission spectroscopies in which electron population spectra are obtained by irradiating a material with a beam of X-rays.

X射线光电子能谱是一种具有高分辨率、高灵敏度的表面分析方法，可以对元素种类及化学价态等信息进行精准分析。 XPS提供了10nm以内材料表面的化学成分，以及除H和He以外的所有元素的信息和0.1-1at.%的检测灵敏度，这使其成为表面表征的独特工具。 表面分析主要用于多相催化、纳米科学、腐蚀、半导体、生物医学和摩擦学等领域。 1887年， 海因里希·鲁道夫·赫兹 发现了 光电效应，1905年， 爱因斯坦 解释了该现象（并为此获得了1921年的 诺贝尔物理学奖）。 两 …

NIST XPS数据库可以访问超22,000个光电子谱峰和俄歇电子谱峰的能量信息，其中部分内容参考并引用了ULVAC-PHI公司出版的 XPS Handbook [Powell C.J., J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 185, 1 (2012)]。用户可以轻松地通过匹配和参考数据库中的测试结果来分析XPS数据。

X 射线光电子能谱( X-ray photoecectron spectroscopy， XPS) 技术是一种通过一束入射到样品表面3~10nm 深度的光子束，检测材料表面信息的无损测量技术。 XPS 技术能很好地使样品保持其原有的结构信息，可用于定性…

2024年2月1日 · Despite numerous tutorials and standards written to the technical community on X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), difficulties with data acquisition, analysis, and reporting persist. This work focuses on common errors in XPS that are frequently observed in the scientific literature and their sources.

2017年1月1日 · X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) can be used to analyze the surface chemistry of a material after an applied treatment such as fracturing, cutting, or scraping. From nonstick cookware coatings to thin-film electronics and bioactive surfaces, XPS is the standard tool for surface material characterization.

2025年2月7日 · XPS, 全称为X-ray Photoelectron Spectroscopy（X射线光电子能谱）, 是一种使用电子谱仪测量X-射线光子辐照时样品表面所发射出的光电子和俄歇电子能量分布的方法。XPS可用于定性分析以及半定量分析, 一般从XPS图谱…

X光电子能谱分析的基本原理：一定能量的X光照射到样品表面，和待测物质发生作用，可以使待测物质原子中的电子脱离原子成为自由电子。 该过程可用下式表示： hn=Ek+Eb+Er （1） 其中:hn：X光子的能量；Ek：光电子的能量；Eb：电子的结合能；Er：原子的反冲能量。 其中Er很小，可以忽略。 对于固体样品，计算结合能的参考点不是选真空中的静止电子，而是选用 费米能级，由内层电子跃迁到费米能级消耗的能量为结合能Eb，由费米能级进入真空成为自由电子所 …

2022年8月22日 · How XPS works. X-rays (photons) are shot onto a sample, and when electrons in the sample absorb enough energy, they are ejected from the sample with a certain kinetic energy. The energy of those ejected electrons is analyzed by a detector and a plot of these energies and relative numbers of electrons is produced.

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