
JXA-iHP200F Field Emission Electron Probe Microanalyzer (FE …
JXA-iHP200F and JXA-iSP100 are integrated EPMAs with enhanced features, satisfying these needs and achieving more efficient operations from observation to analysis. EPMA is abbreviation for Electron Probe Microanalyzer. Holder insertion with Auto Loading! Quickly find the target observation point!
電子プローブマイクロアナライザー - JEOL
JXA-iHP200F フィールドエミッション電子プローブマイクロアナライザー (FE-EPMA)の製品情報 をご紹介。 電子顕微鏡 (TEM,SEM) 、核磁気共鳴装置 (NMR) や質量分析装置 (MS) などの理科学計測機器・医用機器・半導体関連機器・産業機器の製造・販売・開発・研究を手がける。
Field Emission EPMA | High Imaging Resolution | Manufacturer
The JXA-iHP200F Field Emission EPMA is a state of the art, top of the line, research grade EPMA that provides both high imaging resolution and analytical resolution with a very high and stable probe current for optimum analytical performance. This new microprobe has a new SEM and EDS user interface (GUI) based on the FEG SEM's "SEM Center".
场发射电子探针-JXA-iHP200F_电子探针实验室_实验设备_关于我 …
2024年3月20日 · 二次电子像分辨率可达6nm(工作距离11mm);背散射电子像分辨率可达20nm(拓扑像、成分像);加速电压可调范围为0~30kV;束流范围为10-12~10-5A;具有四级物镜可变光栏;图像放大倍数为×40~×300,000,连续可调;电子束位移小于1μm/h;分析元素范围:5B - 92U;X射线出射角为40°;分光晶体有全聚焦型晶体和半聚焦型晶体两种,每道2个晶体,分光晶体交换时间少于1.5秒;罗兰圆半径有100mm和140mm两种;具有反光显微镜,分辨 …
JEOL场发射电子探针显微分析仪JXA-iHP200F - yiqi.com
2025年3月15日 · JXA-iHP200F 场发射电子探针显微分析仪, 在保持高局部微量元素分析性能的同时,追求每个人都能简单快速地使用好仪器。 该仪器能更加有效地进行观察分析和操作,是更先进的一体化集成FE-EPMA。 JXA-iHP200F在保持高局部微量元素分析性能的同时,追求每个人都能简单快速地使用好仪器。 该仪器能更加有效地进行观察分析和操作,是更先进的一体化集成FE-EPMA。 电子探针显微分析仪在钢铁、汽车、电子零件和电池材料等各种工业领域,作为研究 …
JXA-iHP200F 场发射电子探针显微分析仪 - lxyee.net
JXA-iHP200F 场发射电子探针显微分析仪,JXA-iHP200F在保持高局部微量元素分析性能的同时,追求每个人都能简单快速地使用好仪器。 该仪器能更加有效地进行观察分析和操作,是更先进的一体化集成FE-EPMA。 日本电子JEOL场发射电子探针显微分析仪 JXA-iHP200F. JXA-iHP200F在保持高局部微量元素分析性能的同时,追求每个人都能简单快速地使用好仪器。 该仪器能更加有效地进行观察分析和操作,是更先进的一体化集成FE-EPMA。 产品规格: 产品特点: 电子探 …
日本电子 JXA-iHP200F - 仪器谱 - 分析测试百科网
JXA-iHP200F采用浸没式肖特基场发射电子枪,优化了角电流密度,能利用2 μA以上的大探针电流进行分析,还提高了分析条件下的二次电子像的分辨率。 操作简单高效。 新开发了多种基于Windows操作系统的软件,其中包括:能使痕量元素分析更加简便的“痕量元素分析程序”、能自动制作相图的“相图制作器”以及只需简单输入就能对表面凹凸不平样品进行测试的“不平坦样品的分析程序”等。 备注:Windows7® 为美国微软公司在美国及其它国家的注册商标或商标。 X射线波 …
JXA-iHP200F - JEOL (Germany) GmbH and Nordic (AB)
JEOL’s ultra-high energy-resolution Soft X-ray Emission Spectrometer with its superb energy resolution enables unprecedented chemical bonding state and trace element analyses. The variable-line-spacing (VLS) grating allows for simultaneous detection (much like EDS) and detection of Li-K and B-K spectra with a high-sensitivity CCD.
日本电子 JEOL 电子探针JXA-iHP200F - 仪器信息网
日本电子为您提供日本电子 JEOL 电子探针JXA-iHP200F的参数、价格、型号、原理等信息,扫描电镜JXA-iHP200F,产地日本,品牌为日本电子,日本电子客服电话:400-099-7703,售前、售后均可联系。
日本JEOL场发射电子探针显微分析仪JXA-iHP200F - 仪器信息网
JXA-iHP200F是由日本电子JEOL生产的场发射电子探针显微分析仪,具备广泛的检测元素范围(WDS: Be/B至U,EDS: Be至U),并提供多种自动功能以简化操作流程,适用于工业和学术领域的研究及质量保证。 该设备集成了SEM、EDS、XRF、WDS和光学成像功能,优化了分析效率和空间分辨率,并具有内置校正机制和维护通知系统,确保设备始终处于最佳工作状态。 日本电子JEOL场发射电子探针显微分析仪 JXA-iHP200F. JXA-iHP200F在保持高局部微量元素分析性 …