
The new-generation ICOS 3D module provides unprecedented inspection capability at unseen accuracy. + Best accuracy in back end industry + 3D inspection of any object: ball, leads, passive device, solder pad, etc. + 3D scan of surfaces to detect and measure dents, bulges + Multi-row inspection of TSOP and QFP devices + Embedded SPECTRUM+ 2D ...
IC Component Inspection and Metrology - KLA
ICOS™ T890XP 元件检测仪可对封装集成电路(IC)元件和单体集成电路基板进行高效、全自动光学检测。 该系统提供准确且可重复的 3D 测量和高灵敏度高级视觉检测 (AVI),用于六边缺陷检测,以确定各种设备类型和尺寸的最终封装质量。 ICOS T890XP 可实现四个独立检测站和一个组件分选站的平行操作,实现高吞吐量、高成本效益的组件检测。 KLA’s packaged component inspection and metrology systems provide process control during package assembly and test …
光学检测系统 - ICOS™ T3/T7 - KLA Corporation - 3D / 2D / IA
为了实现最准确的组件分拣工艺,icos t3 / t7系列采用具有深度学习算法的人工智能(ai)系统以实现缺陷类型的快速智能分类。 ICOS T3和T7检测设备采用同一个平台,支持托盘输出和编带输出的灵活配置,以在不断变化的环境中提供最佳的设备利用。
ICOS™ T3/T7 - KLA Corporation - PDF Catalogs - DirectIndustry
FLOOR PLAN 3D Metrology & PVI • 2CAM, KITO or SIGMA Tray Transfer Option ICOS T3 & T7 SERIES With the T3 & T7 product family, KLA-Tencor’s ICOS division sets a new standard in the inspection of packaged semiconductor ICs. Its highly flexible design provides a solution for every inspection requirement.
KLA Corporation - 巨沛股份有限公司
巨沛股份有限公司成立於 1990 年 6 月,在董事長蔡進步先生的領導下,以前瞻性的眼光,提供客戶具高度競爭的產品及完整的售後服務。自創業以來,公司一貫秉持對半導體科技專業的技術以及對客戶誠信的原則,從事半導體封裝, LED及SMT 等相關設備與材料的販售及售後服務。
科磊发布封装检测新机台,满足先进半导体封装需求 03月22日更 …
2019年4月9日 · ICOS T830 则是针对 IC 后端封测的检测系统,具备强化的封装影像检测能力,能够对元件顶部和底部的表面缺陷进行高灵敏度检测,例如孔隙、刮伤、凹陷、裂片和暴露的金属;另外对尖端内存和逻辑电路封装装置提供高速 3D 球、导线和电容测量,封装 Z 高度测量,以及元件侧面检测。 (图为科磊新推出的半导体封装检测系统 CIRCL-AP 和 ICOS T830。 Source:科磊提供) 目前科磊在晶圆级封测市场仅以 27.3% 的市占率排行第二,但看好晶圆封测挑战渐 …
Optical inspection system ICOS™ T3/T7 - DirectIndustry
The ICOS™ T3/T7 Series delivers multiple options for fully automated optical inspection of packaged integrated circuit (IC) components with tray (T3) or tape (T7) output. The ICOS T3/T7 Series provides increased sensitivity to small defect types paired with accurate and repeatable 3D metrology measurements to provide enhanced detection of ...
KLA-Tencor Introduces New Portfolio for Advanced Semiconductor ...
2015年4月16日 · The ICOS T830 provides fully automated optical inspection of integrated circuit (IC) packages, leveraging high sensitivity with 2D and 3D measurements to determine final package quality for a wide range of device types and sizes.
Packaged IC Inspection and Metrology Systems<BR>ICOS™ …
巨沛股份有限公司成立於 1990 年 6 月,在董事長蔡進步先生的領導下,以前瞻性的眼光,提供客戶具高度競爭的產品及完整的售後服務。自創業以來,公司一貫秉持對半導體科技專業的技術以及對客戶誠信的原則,從事半導體封裝, LED及SMT 等相關設備與材料的販售及售後服務。
The new-generation ICOS 3D module provides unprecedented inspection capability at unseen accuracy. + Best accuracy in back end industry + 3D inspection of any object: balls, leads, passive devices, solder pads, etc. + 3D scan of surfaces to detect and measure dents, bulges + Multirow inspection of TSOP and QFP devices + Embedded SPECTRUM+ 2D ...
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