j750ex-hd 是市面上成熟、久经验证的汽车 mcu 测试平台。 该测试系统旨在提供稳定的芯片测试结果，并配备相应的软件工具，以帮助验证测试程序，提供高质量的测试方案，这一点对汽车市场至关重要。

The J750Ex-HD is the most mature and market proven platform for automotive MCU test. The test system is designed to provide repeatable device test results and is equipped with software tools to help verify the test program to provide the highest quality testing which is …

2025年1月15日 · 泰瑞达J750Ex-HD Level1 v1.0是一款高级的ATE（Automated Test Equipment）测试机，专为满足现代电子元件尤其是微控制器（MCU）市场的高精度和低成本测试需求而设计。该平台策略概述了Teradyne在应对低消费电子产品...

2014年8月29日 · J750 最新版的 DIB design guideline, 包括J750Ex, HD, IP750等设计要求。

超大规模集成电路测试系统J750HD是一种用于生物学领域的电子测量仪器，于2016年6月1日启用。 （1）数字功能部分 1.时钟频率：800MHz 2.数字通道 :1024，每个通道具有独立的驱动电路、比较电路、动态负载机PPMU 3，可以支持SCAN测试（2）模拟功能部分 1.MSO选件有4组差分任意波形发生器和4路差分数字化仪 2.最高采样率： 输出100M次/秒，输入50M次/秒 3.绝对范围：≥14bit （-6V~+6V） 4.偏置范围：16bit （-5V~+5V） 5.动态范围：＞105db （3）DC测试性 …

2024年9月26日 · 【下载地址】J750硬件参数手册下载 本仓库提供了一份详细的J750硬件参数手册，适用于J750和J750Ex型号。 该手册包含了各种硬件的详细参数，如通道数、电压电流规格等，方便用户查阅和使用 项目地址: https://gitcode.com/Open-source-documentation-tutorial/cb74d. 在硬件开发和测试领域，准确了解设备的硬件参数是确保项目成功的关键。 为了帮助广大工程师和技术人员更好地使用J750和J750Ex型号的硬件设备，我们推出了这份详细的J750硬件参数手 …

泰瑞达的 j750 系列是先进的 mcu 设备测试解决方案，适用于汽车和消费应用以及图像传感器测试。 该系列能持续提供可靠、可重复的设备测试结果，也因此深受广泛汽车半导体供应商认可。

作为所有 J750 型号（J750、Ex、HD）的升级版本，J750-LitePoint 充分利用了 IG-XL 的开发和调试能力，并集成了 LitePoint RF 工具套件和调制库。 J750-LitePoint 为高吞吐量 RF 信号处理提供了专用的板载仪器 DSP、一个丰富的无线软件库和一套全面的调试工具套件。

2019年9月10日 · 美国Teradyne J750系列测试设备，包括J750、 J750EX、J750EX-HD、IP750等不同配置型号。 它们全部采用IG-XL的测试应用开发及测试管理系统，该系统基于Windows操作系统和Excel表格式编程，具有易学易用、高效灵活的特点，特别适合多品种、小批量的测试程序开发 …

J750Ex-HD 为复杂度较低的混合信号芯片提供了最低成本的测试解决方案。 J750 系统还可搭配 LitePoint 板卡选配件，形成经济高效且完整的量产测试解决方案，适用于全球各无线连接标准。 随着 Bluetooth® 等嵌入式 RF 元器件在微 控制器 和其他独立的无线 SoC 设备中的普及，J750 扩展了测试的应用范围，继续实现更卓越的成本效率和更快的上市时间。 工程师可利用相同的 LitePoint 板卡进行最初的Bench设计和后续的模块测试，新产品上市的总工作量和时间得到了显著改进 …