作为所有 J750 型号（J750、Ex、HD）的升级版本，J750-LitePoint 充分利用了 IG-XL 的开发和调试能力，并集成了 LitePoint RF 工具套件和调制库。 J750-LitePoint 为高吞吐量 RF 信号处理提供了专用的板载仪器 DSP、一个丰富的无线软件库和一套全面的调试工具套件。

2025年1月15日 · 本书将从ATE测试机台的基本概念和原理开始介绍，帮助读者理解测试机台的工作原理和结构。 随后，我们将详细介绍泰瑞达J750HD测试机台的功能和特点，并通过具体案例和实例说明如何通过该设备进行各种测试任务。 无论您是新手还是经验丰富的专业测试工程师，本书都将为您提供有针对性的内容。 我们希望通过本书，读者能够掌握ATE测试机台的基本原理和操作技巧，进而提高测试效率和产品质量。 最后，我们要特别感谢所有参与本书编写的专业人士 …

2024年9月26日 · 其用户手册深入浅出地介绍了J750的各项功能，包括但不限于系统配置、测试程序设定、数据采集和分析。在视觉方面，J750支持可视化界面，使得操作更加直观，用户可以通过图形化界面进行测试任务的设置和监控。 Chroma...

The J750 family is the longest running active ATE product which has maintained compatibility throughout its entire lifetime while providing new instrumentation to offer higher performance and lower cost of test. The J750Ex-HD is the latest offering which offers the highest level of parallelism and performance on the market.

2025年2月4日 · 该测试平台提供了丰富的数字功能和特性分析测试，其中包括高速数字板卡 (HSD800)， 内存测试 选配件 (MTO)，数字信号发射和接收 (DSSC)，深度扫描历史RAM (DSHRAM)等，以满足不同测试需求。 在嵌入式内存测试方面，MTO选配件为用户提供了便捷的解决方案，而DSSC则能够在每个引脚后实现存储和混合信号。 此外，DSHRAM适用于基于DFT的SCAN测试，为测试过程提供了更多便利。 当涉及到嵌入式快闪存储器测试时，高电压数字 …

2012年6月13日 · 泰瑞达(teradyne) j750 培训材料 ,eetop 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)

2024年8月19日 · 泰瑞达ATE测试系统J750 J750Ex规格规范.pdf,J750/J750Ex Specifications: Table of Contents TABLE OF CONTENTS About the J750 Specifications 1-1 APMU Specifications2-1 General S

2024年8月17日 · 泰瑞达ATE测试系统J750参考手册.pdf,J750 Test Systems 512 Pin Test System Service Reference Manual Document Number: J7SM0002 Revision: 2018 512 Pin Test System Service Refer

2014年8月29日 · J750 最新版的 DIB design guideline, 包括J750Ex, HD, IP750等设计要求。

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