"NEOARM" / JEM-ARM200F comes with JEOL’s unique cold field emission gun (Cold FEG) and a new Cs corrector (ASCOR) that compensates for higher order aberrations. The combination of a Cold FEG and ASCOR enables atomic-resolution imaging at not only 200 kV accelerating voltage, but also a low voltage of 30 kV.

日本电子JEM-ARM200F为电子光学系统标准配备了一体化球差校正器，电气和机械性能的稳定性也达到极限水平, 使扫描透射像 (STEM-HAADF)分辨率达到0.08nm, 成为商用透射电子显微镜中的世界之最。电子束在像差校正之后, 束流密度比传统的透射电子显微镜高出一个数量级。 主要用于材料的高分辨形貌观察和微区的晶体结构、成分分析。 可拍摄。 技术参数. 原位球差校正透射电镜 球差校正透射电镜 (ACTEM) JEOL JEM-ARM200F 测试项目HRTEMSTEM-HAADF/ABFEDS …

"NEOARM"は、当社独自の技術で開発された冷陰極電界放出形電子銃（Cold-FEG）と高次の収差まで補正可能な新型球面収差補正装置（ASCOR）を標準搭載し、200 kVの高加速電圧だけでなく30 kVの低加速電圧においても原子分解能での観察を実現しました。 また、当社独自の収差補正アルゴリズムを開発し高速かつ正確な収差補正を自動的に行うシステムを搭載しました。 これにより、ハイスループットな原子分解能観察を提供します。 さらに、加速電圧によらず …

Double Wien-filter monochromator for JEM-ARM200F is newly developed to realize ultra high energy resolution EELS analysis at atomic-scale. The 1st Wien-filter and the electro-static lens produces a focus with energy dispersion of 12.3 μm/eV at the slit plane.

The JEM-ARM200F ACCELARM, with a STEM Cs corrector incorporated as standard, and the mechanical and electrical stability enhanced to the utmost limit, achieves an unprecedented STEM-HAADF resolution of 78 pm*1 and 82 pm *2.

"NEOARM" / JEM-ARM200F comes with JEOL’s unique cold field emission gun (Cold FEG) and a new Cs corrector (ASCOR) that compensates for higher order aberrations. The combination of a Cold FEG and ASCOR enables atomic-resolution imaging at not only 200 kV accelerating voltage, but also a low voltage of 30 kV.

日本电子NEO JEOL COSMO™ 自动合轴系统、Ad-hock合轴（SIAM） 加速电压. 30 ～ 200 kV（ 标配30、80、200 kV；选配60、120 kV） 无磁场模式. 标配洛伦兹模式、放大倍数 ( ×50 ～ 80 k荧光屏为参考面) 样品移动系统. X,Y,Z 轴高精度机械驱动、标配超高精度压电陶瓷驱动. 操作类型

通过最新原位化学反应研究技术，使用JEOL JEM-ARM200F ChemTEM揭示了Ag在单层Te纳米线阵列上的各向异性迁移行为，并且Ag离子通过Te纳米结构的（101）表面嵌入。

日本jeol原子级分辨率透射电子显微镜jem-arm200f neoarm NEOARM” 标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪（Cold-FEG）和全新的高阶球差校正器（ASCOR）。 无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下，均能实现原子级分辨率的观察与分析。

工作电压200 KV，配有聚光镜球差校正器和能量过滤系统， TEM点分辨率0.19 nm，信息分辨率0.10 nm，STEM分辨率 0.08 nm。 仪器应用： 对样品在纳米尺度的精细结构和化学成份进行高水平表征，为纳米科学、凝聚态物理学、结晶学、材料科学、生命科学等研究领域的科研项目服务。 制样要求： 1. 对于粉末和液体样品，可直接超声分散后滴加在载网上； 2....