
wavelength-dispersive X-ray spectroscopy, WDS, WDX - JEOL
2012年10月24日 · That is, WDS can detect trace elements of 100 ppm or less, enabling qualitative analysis of very trace elements (trace light elements of boron (B) to fluorine (F)). WDS provides a high quantitative accuracy, which is compatible to that of wet chemical analysis.
wavelength-dispersive X-ray spectroscopy, WDS - JEOL
2012年10月23日 · Wavelength-dispersive X-ray spectroscopy (WDS) is an element analysis method. Characteristic X-rays generated from a specimen are measured using Bragg reflections of X-rays with analyzing crystals, based on the diffraction angles of the reflected X-rays caused by the analyzing crystals.
波長分散X線分光法 | 用語集 | JEOL 日本電子株式会社
2012年10月24日 · WDS can analyze elements ranging from beryllium (Be) to uranium (U). Comparing to EDS, WDS provides a high energy resolution of about 20 eV, one order of magnitude higher than EDS. Thus, adjacent spectral lines of the characteristic X-ray spectra which cannot be observed separately by EDS can be …
定性分析 | 用語集 | JEOL 日本電子株式会社
2012年10月24日 · Qualitative analysis means to identify constituent elements of a specimen from the energy or wavelength of characteristic X-rays emitted from the specimen. The method to measure the energy is termed EDS (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy) and the method to measure the wavelength is termed WDS (Wavelength Dispersive X-ray Spectroscopy).
A New WDS Spectrometer for Valence Electron Spectroscopy Based ... - JEOL
A new WDS spectrometer for a transmission electron microscope has been constructed. This spectrometer can cover an energy region from 50 eV to 3800 eV by using four aberration-corrected gratings for flat-field optics.
新WDS 装置を用いた軟X 線発光分光による価電子状態分析 | アプリケーションノート | JEOL …
日本電子 (jeol)公式サイト。 新WDS 装置を用いた軟X 線発光分光による価電子状態分析のアプリケーションノート をご紹介。 電子顕微鏡 (TEM,SEM) 、核磁気共鳴装置 (NMR) や質量分析装置 (MS) などの理科学計測機器・医用機器・半導体関連機器・産業機器の製造 ...
电子探针实验室--深地过程与战略矿产资源全国重点实验室
2022年7月11日 · 目前拥有日本电子JEOL JXA-8230型电子探针一台,配备5道波谱仪 (WDS) (含10个分光晶体)和1道Oxford X-Max 20型能谱仪 (EDS)。 实验室目前可以实现矿物、岩石、实验岩石学合成样品和材料等各类固体样品的形貌观察、高精度微区定性和定量分析、元素线扫描和面扫描分析。 主要的应用有: (1) 二次电子 (SEI)和背散射 (BSE)图像观察; (2) 常见造岩矿物 (包括氧化物、硅酸盐和磷酸盐等)主量元素含量分析; (3) 金属硫化物主量元素含量分析; (4) 高温高压实 …
파장 분산형 X선 분광법, WDS | 용어집 | (주)절 - JEOL Ltd.
2012年10月23日 · WDS(Wavelength-dispersive X-ray spectroscopy)는 원소 분석 방법입니다. 시료에서 발생하는 특성 X선은 분석 결정에서 발생하는 반사 X선의 회절각을 기준으로 분석 결정과 함께 X선의 브래그 반사를 이용하여 측정합니다. 광소자의 분석력은 EDS를 능가합니다.
Soft X-Ray Emission Spectrometer | SXES | Supplier - JEOL USA
JEOL has developed an unprecedented new type of wavelength dispersive spectrometer (WDS) that utilizes a variable space grating, allowing the efficient and parallel collection of very low energy-rays (so called “soft” X-rays).
파장 분산형 X선 분광법, WDS, WDX | 용어집 | (주)절
2012年10月24日 · WDS는 베릴륨 (Be)에서 우라늄 (U)에 이르는 원소를 분석할 수 있습니다. EDS와 비교할 때 WDS는 약 20eV의 높은 에너지 분해능을 제공하며 EDS보다 한 단계 더 높습니다. 따라서, EDS에 의해 개별적으로 관찰될 수 없는 특징적인 X-선 스펙트럼의 인접한 스펙트럼 라인은 구성 원소를 식별하기 위해 개별적으로 검출될 수 있다. WDS에서 얻은 스펙트럼의 신호 대 잡음비가 높기 때문에 WDS의 미량 원소 검출 한계는 EDS보다 100배 더 높습니다. 즉, WDS는 100ppm 이하의 …