The JEM-2100F is a multipurpose, 200 kV FE (Field Emission) analytical electron microscope. Variety of versions is provided to adapt user’s purposes. The FE electron gun (FEG) produces highly stable and bright electron probe that is never …

利用200kv场发射透射电镜jem-2100f，不仅可实现超高分辨率图像的观察，同时，还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。 高亮度的场发射电子枪，轻松实现各种分析功能。

利用200kv场发射透射电镜jem-2100f，不仅可实现超高分辨率图像的观察，同时，还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。 高亮度的场发射电子枪，轻松实现各种分析功能。

Multipurpose 200 kV TEM with simple and ease-of-use operability and excellent expandability. Excellent LaB6 electron gun promises excellent performance with a reasonable cost. Ultrahigh TEM resolution as high as 0.19 nm (in UHR configuration) enables us to perform an observation at atomic resolution.

型号： JEM-2100F. 主要技术指标： 1、 点分辨率： 0.25nm ；线分辨率： 0.102nm ； STEM 分辨率： 0.20nm. 2、 加速电压： 80 ， 100 ， 160 ， 200KV. 3、 倾斜角（ X/Y ）： ± 42/ ± 30 ° ； 4、 配备德国 Bruker 公司 XFlash 5030T 型 X 射线能谱仪. 应用范围： 1.

这一设备是日本电子公司一款的透射电子显微镜，操作电压 200kV，具有非常稳定的电子光学系统，可以实现STEM、 EDS 和 EELS的一体化控制。 JEM-2100主要特点是可以快速地获得超高分辨率图像，使原子尺度的结构分析更简便，其应用领域广泛，适用于材料科学、纳米科学和生命科学。 JEM-2100透射电镜采用了高稳定性测角台，特别适用于三维重构的高角度倾斜。 选配JEOL TEMography™软件，可以实现图像的自动采集、自动计算和重构、任意轴的三维显示。 还可 …

jem-2100f是日本电子生产的一款场发射高分辨透射电子显微镜，其工作电压是200kv， 点分辨率0.23nm，线分辨率0.10nm，附带有STEM探头和EDAX ELite能谱仪，广泛应用于

JEM-2100Fは、高輝度で高い干渉性、しかも高い安定度の電子線が得られるフィールドエミッション電子銃 (FEG)を搭載し、ナノスケールオーダの超高分解能の像観察や分析が容易です。 さらにPCのネットワーク機能を利用することにより、各種分析機器や画像機器との連携が実現できます。 高輝度、高安定度のフィールドエミッション電子銃を搭載。 高倍率での構造解析およびナノ領域分析が容易です。 プローブ径は、μmオーダーから最小径0.5nmが可能。 分析点をナ …

2024年11月5日 · 高分辨透射电子显微镜jem-2100f能直接观察、研究材料的内部的相组成和分布，以及晶体中位错、层错晶界、空位等缺陷；配合能谱分析可以对样品的化学组成进行定性及半定量分析，是研究材料微观组织最有力的工具之一。

2023年8月26日 · 如您想了解更多关于日本电子jem-2100f透射电子显微镜（透射电镜、tem）的报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。