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1.1 Purpose: Patterned Wafer Inspection System, to monitor Patterned wafers particles and defects for yield manager.
KLA 2138
KLA; KLA 2138; KLA 2138. Equipment configuration： ... Line Condition or AVR 加入詢問單. 更多其他系列產品 KLA. KLA 2139. KLA 2135. KLA 2132. KLA 2552. KLA AITXP. TOP. Taiwan …
Evaluation of the KLA-Tencor 2138 for line monitoring applications
1998年6月8日 · The purpose of this project was to evaluate the effectiveness of the new 2138 UBB system compared to a KT AIT, non-SAT tests on a KT 2135, and SAT recipes on the KT …
KLA-Tencor 2138 For Sale - gsemi.com
KLA 2138 _____ - Patterned Wafer Defect Inspection Tool (non-UBB) - Throughput ~ 15-30 wph - Currently set up for 8" wafers - 4", 5" & 6" wafer capable - Sensitivity >0.25µm pixels - DOS …
KLA / TENCOR 2138 光罩與晶圓檢測設備 用於銷售價格 #191420 …
KLA/TENCOR 2138掩模和晶圓檢測設備是一種高速、精密的工具，用於檢測半導體結構和器件的缺陷，提供一系列微米級精度和先進的成像技術，如UV、UV-Vis、NIR和IR。 它具有板載濾 …
KLA / TENCOR / PROMETRIX 2138 XP 晶圆检测仪 用于销售价格 …
KLA/TENCOR/PROMETRIX 2138 XP是利用先进的电子束技术和先进的分析方法检测和分析光掩码和晶片纳米级缺陷的掩模和晶片检测系统。 它可靠、高效,并且可针对特定应用程序轻松定 …
KLA / TENCOR 2138 光罩與晶圓檢測設備 用於銷售價格 #9115814 …
KLA/TENCOR 2138 Mask&Wafer Inspection Equipment是一種全面、全自動的解決方案,可幫助檢測晶片和其他半導體器件上的工藝缺陷,並通過其多站點工作站、行業標準晶體管級計量、自 …
KLA / TENCOR 2138 晶圆检测仪 用于销售价格 #191420 > 从 CAE
2138 Mask and Wafer Inspection Model是一款功能强大、可靠、灵活的工具,专为满足半导体制造和检验行业客户所需的特定需求和应用而量身定制。 凭借其先进的成像技术、人体工程学设 …
KLA / TENCOR / PROMETRIX 2138 XP 光罩與晶圓檢測設備 用於銷 …
KLA/TENCOR/PROMETRIX 2138 XP是利用先進的電子束技術和先進的分析方法檢測和分析光掩碼和晶片納米級缺陷的掩模和晶片檢測系統。 它可靠、高效,並且可針對特定應用程序輕松定 …
KLA-Tencor 2138 Inspection System – Bridge Tronic Global
At Bridge Tronic Global, our refurbishment services breathe new life into used semiconductor manufacturing equipment, ensuring peak performance at a fraction of the cost. Our expert …
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