KLA-Tencor 推出 2830、Puma 9500 系列和 eDR-5210 专门针对 3Xnm 和 2Xnm 节点的晶圆缺陷检测和再检测系列 • 新型 2830 系列宽波段明场晶圆缺陷检测系统采用 PowerBroadband TM …
KLA-Tencor Launches 2830 and Puma 9500 Series, eDR-5210
2009年7月13日 · The 2830 Series brightfield wafer inspection platform uses a revolutionary high-power plasma light source to illuminate defect types whose size or location made them …
KLA-Tencor 推出 2830、Puma 9500 系列和 eDR-5210-AET-电子 …
2009年7月15日 · 新型 2830 系列明场检测平台采用 PowerBroadbandTM，这是一种独特的高亮度光源，其设计可实现更多重复捕获难以发现的缺陷，加快检测速度，并更好地区分关键缺陷和 …
KLA-Tencor lines up trio of 3X-2X inspection systems
KLA-Tencor’s 2830 Series. (Photo: Business Wire) The Puma 9550 combines high-NA collection optics with a higher-power laser, enabling apertures, a new image acquisition system, and …
KLA / TENCOR 2830 晶圆检测仪 用于销售价格 #293594509, 2013 …
KLA/TENCOR 2830是一种高速自动检查系统,每次测量可检测多达28个掩模和晶片,并使用双梯级成像技术在不到一秒的时间内快速检测潜在缺陷。 它具有符合人体工程学的设计和直观的用 …
KLA-Tencor四款新系统提供先进的缺陷检测与检查能力
2014年7月9日 · KLA-Tencor推出四款新的系统——2920系列、Puma 9850、Surfscan SP5和eDR-7110——为16nm及以下的集成电路研发与生产提供更先进的缺陷检测与检查能力。
KLA-Tencor 推出 2830 系列、Puma 9500 系列和 eDR-5210 系统 專門針對 3Xnm 和 2Xnm 節點的晶圓缺陷檢測和再檢測產品系列 • 新款 2830 系列寬頻明視野晶圓缺陷檢測系統採用 …
Used KLA / TENCOR 2830 #293600871 for sale - caeonline.com
KLA / TENCOR 2830 Mask and Wafer Inspection Equipment is a powerful and reliable tool for automated inspection of masks and wafers. This system uses advanced image acquisition and …
새로운 2830 시리즈 Bright Field 검사 플랫폼은 독자적인 PowerBroadbandTM 광원을 도입하여 지금까지 검출이 어려웠던 결함을 보다 반복적이고 빠르게 검출하고, 중요 결함과 유사 결함의 …
KLA-Tencor Boosts 45nm Defect Capture, Doubles ... - KLA …
2007年6月26日 · KLA-Tencor (NASDAQ: KLAC) today introduced its latest addition to the 28xx brightfield inspection platform, featuring specialized optical configurations that solve the unique …
KLA-Tencor 推出 2830、Puma 9500 系列和 eDR-5210
2009年7月14日 · 新型 2830 系列明场检测平台采用 PowerBroadbandTM，这是一种独特的高亮度光源，其设计可实现更多重复捕获难以发现的缺陷，加快检测速度，并更好地区分关键缺陷和 …
KLA-Tencor 发布新型旗舰晶圆检测解决方案组合
KLA-Tencor 公 司 宣布 为先进芯片制造商推出三款新型晶圆缺陷检测系统 ： 2900 、 Puma 9650 和 eS800 系 统。此新型旗舰组合旨在解决新材料、新结构和新设计规则给先进芯片制造商带 …
KLA 2835 Broadband Plasma逻辑器件专用明场检测仪说明书_百度 …
2835 Broadband Plasma 是业界首款逻辑器件专用的明场检测仪,在亚45nm 的逻辑器件上能够侦测到最多类别的关键缺陷。 2835凭借一系列像素尺寸、专利的算法工具包和增强型数据速率,能 …
光学检查机 - 29xx - KLA Corporation - 带图案晶圆 / 用于电子工业 …
DirectIndustry（工业在线展会）为您提供光学检查机产品详细信息。规格型号：29xx，公司品牌：KLA Corporation。直接联系品牌厂商，查询价格和经销网络。寻找更多国外精选光学检查机 …
ケーエルエー・テンコールが2830、Puma9500、eDR-5210の三種 …
2009年7月13日 · 2830シリーズ明視野ウエハー検査装置は革新的な高輝度プラズマ照明を使用することで、今まではその大きさやロケーションによる影響で、補足率高く検出することの不 …
待售二手貨 KLA 2830 | Moov
在 Moov 交易市集上購買或銷售二手的 KLA 2830。數以千計的已驗證上架商品，每天皆會新增工具。
当下晶圆缺陷检测检测现状 - CSDN博客
2024年1月18日 · KLA-Tencor 晶圆检测设备： 超分辨率宽光谱等离子图案晶圆缺陷检测系统. 392x Series电浆晶圆缺陷检测系统针对≤7nm的逻辑和领先储存器件，支援位于设计节点的晶圆级 …
KLA-Tencor 推出 2830、Puma 9500 系列和 eDR-5210
2009年7月15日 · 新型 2830 系列明场检测平台采用 PowerBroadbandTM，这是一种独特的高亮度光源，其设计可实现更多重复捕获难以发现的缺陷，加快检测速度，并更好地区分关键缺陷和 …
KLA-Tencor 推出 2830、Puma 9500 系列和 eDR-5210 - 易迪拓培训
2830 系列、 Puma 9550 系列晶圆缺陷检测系统和 eDR-5210 电子束缺陷再检测和分类系统由 KLA-Tencor 广泛的服务网络提供支持 ， 可确保其高性能和工作效率。 有关各产品的更多详细 …
KLA-TENCOR 2800 宽带深紫外光明场系统帮助 CROLLES2 …
2006年6月13日 · Crolles2 在其 65 纳米研发和 90 纳米生产合作中采用 2800，可检测到影响成品率的关键性缺陷，而采用上一代的检测工具是无法做到这一点的。 “我们对 Crolles2 Alliance …
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