KLA’s software solutions for the semiconductor ecosystem centralize and analyze the data produced by inspection, metrology and process systems, and explore critical-feature designs and manufacturability of patterning technologies.

用于 IC 载板的生产流程管理和控制的全面解决方案组合。 通过基于面板的互联创新推动芯片性能提升。 我们是连接电子和光子光学、传感器技术以及人工智能的纽带。 从初始晶圆成为下一代芯片再到改变世界的理念，我们协助实现未来。 KLA是充满好奇心，智力挑战和行业转型的地方。 工作概述：拓宽视野，推动进步，享受过程。 我们开发并提供工艺控制和工艺促进解决方案，助力未来电子技术的发展。 我们出色的财务业绩推动全球创新。 我们从微观尺寸-埃、zettabytes和 …

2024年10月25日 · 接受客户连接的程序 处理既定连接的程序 一个主循环，处理所有事情 ACE Acceptor为我们的第一个要求提供了解决方案。 该类被赋予T CP / IP端口号，将在该端口...

KLARITY® ACE XP IS AN ENTERPRISE BUSINESS APPLICATION meeting the analysis needs of semiconductor professionals, including the defect, yield, product, process, integration, and R&D engineering communities, as well as fabless companies.

Klarity ACE integrates all yield- and process-related data from IC fabs, foundries, wafer and photomask manufacturers, and IC design houses into a centralized database, and provides low-yielding-lot, split-lot and wafer-yield-spatial analysis.

kla的第二个系列是wisard，用于晶圆检测。 对行业的深入理解，加上传承自CV的先进光学和计算机图形技术，使得KLA一时几乎找不到对手。 包括80年代辉煌中的日本芯片厂，也一样购买大量的KLA设备。

半导体制造商使用 KLA 的软件解决方案在开发阶段进行建模和设计，以及生产数据的收集和分析。 PCB 制造商可在整个生产过程中利用我们的计算机辅助制造 (CAM)、工程和数据分析解决方案。 通过实施我们的软件解决方案，制造商可以提高产量和生产质量。

2019年4月19日 · KLA可提供 检测 和量测机台，找出在 制程 中导致可靠性问题的缺陷，让问题在最前端解决。 KLA的新研究——在线 检测 数据辅助芯片筛选法，即正在申请专利的新技术 I-PAT，与常规的G-PAT方法相结合，使可靠性检测效率大幅提高。 1制程控制为什么重要. KLA 制程 控制包含两个部分，一是检测，即找出关键缺陷；另一个是量测，就是测量关键参数 (Measure critical parameters)，例如线宽 (line)，高度 (heights)及侧壁刻蚀角 (side wall angle)等。 对于 …

Klarity ACE XP的高级良率分析系统可帮助晶圆厂获取,保留并且共享良率提升经验,从而在晶圆厂内外协同良率提升。 Klarity系统使用直观的决策流分析,帮助工程师轻松创建定制分析,支持批次处置,抽样检查,缺陷源分析,SPC设置和管理以及偏移通知等应用。

克劳利 ® ACE XP高级产量分析系统帮助晶圆厂在晶圆厂内部和晶圆厂之间获取、保留和分享产量学习，以加速产量。 Klarity系统利用直观的决策流分析，允许工程师轻松创建定制分析，以支持诸如批次处理、审查采样、缺陷源分析、SPC设置和管理以及偏差通知等应用。 Klarity缺陷、Klarity SSA和Klarity ACE XP形成了一个工厂范围的成品率解决方案，可自动将缺陷检查、分类和审查数据减少到相关的根本原因和成品率分析信息。 Klarity数据有助于IC、封装、复合材料和硬盘制 …