KLA's comprehensive metrology portfolio includes Archer, ATL, SpectraShape, SpectraFilm, Aleris, WaferSight, Therma-Probe, RS-200 and Profilers. ... The SpectraFilm™ F1 film metrology system helps achieve strict process tolerances at sub-7nm logic and leading-edge memory design nodes by providing high-precision thin film measurements for a ...

KLA提供全面的量测产品组合，包括Archer, ATL, SpectraShape, SpectraFilm, Aleris, WaferSight, Therma-Probe, RS-200 and Profilers-轮廓仪。 ... SpectraFilm™ F1薄膜测量系统可以为各种薄膜层提供高精度薄膜测量，从而在7nm一下的逻辑和领先内存设计节点上协助实现严格的工艺允许误 …

规格型号：SpectraFilm™，公司品牌：KLA Corporation。 ... 薄膜量测系统 SpectraFilm™ F1薄膜测量系统可以为各种薄膜层提供高精度薄膜测量，从而在7nm一下的逻辑和领先内存设计节点上协助实现严格的工艺允许误差。

Find out all of the information about the KLA Corporation product: thickness measuring system SpectraFilm™. ... Film Metrology Systems The SpectraFilm™ F1 film metrology system helps achieve strict process tolerances at sub-7nm logic and leading-edge memory design nodes by providing high-precision thin film measurements for a broad range of ...

查看KLA的A到Z产品词汇表，包括用于芯片，光罩，封装，复合半导体和HDD制造的检测，计量和数据分析系统。

The SpectraFilm F1 film metrology system helps achieve strict process tolerances at sub-7nm logic and leading-edge memory design nodes by providing high-precision thin film measurements for a broad range of film layers. The high brightness light source drives the spectroscopic ellipsometry technology which provides the signal required to ...

虽然KLA发展势头良好，但Levy觉察到仍有一些其它公司在复制KLA的成功路径。 每家都有自己的特色设备，而且和KLA的产品功能并不重合。 这些设备单品营业额都不大，对KLA来说自研替代设备投资回报比不佳，而且后发者难以抢到别人已经占的地盘。

2017年9月14日 · KLA-Tencor公司日前针对7纳米以下的逻辑和尖端内存设计节点推出了五款图案成型控制系统，以帮助芯片制造商实现多重曝光技术和EUV光刻所需的严格工艺宽容度。在IC制造厂内，ATL™叠对量测系统和SpectraFilm™ F1薄膜量测系统可以针对finFET、DRAM、3D NAND和其他复杂 ...

KLA Corporation社の製品: 厚さ測定システム SpectraFilm™に関するすべての情報をご覧ください。 ... フィルムメトロロジーシステム SpectraFilm™ F1膜測定システムは、幅広い膜層の高精度な薄膜測定を実現することで、7nm以下のロジックや最先端のメモリ設計ノード ...

阿里巴巴销售收Kla-tencor SpectraFilm LD10 F1 WaferSight薄膜量测系统，其他电源，这里云集了众多的供应商，采购商，制造商。这是销售收Kla-tencor SpectraFilm LD10 F1 WaferSight薄膜量测系统的详细页面。品牌:Kla-tencor，规格:SpectraFilm LD10。 产品内容：SpectraFilm™F1薄膜测量系统可以为各种薄膜层提供高精度薄膜 ...