Products - KLA
2022年12月6日 · KLA’s comprehensive portfolio of inspection, metrology & data analytic systems helps manufacturers manage yield through the entire IC fabrication process.
KLA | 制程控制与良率管理的领导者
用于 IC 载板的生产流程管理和控制的全面解决方案组合。 通过基于面板的互联创新推动芯片性能提升。 我们是连接电子和光子光学、传感器技术以及人工智能的纽带。 从初始晶圆成为下一 …
Candela Surface Defect Inspection Systems | KLA
Candela ® surface defect inspection systems detect and classify a wide range of critical defects on compound semiconductor substrates. Surface defect inspection substrates include GaN, …
[半导体检测-3]：半导体检测领域的领头羊KLA科磊的产品线_kla半 …
2024年9月25日 · 半导体检测领域的领头羊kla科磊（简称kla）的产品线广泛且深入，覆盖了半导体制造和相关电子行业的多个关键环节。 KLA的产品线主要包括用于检验、测量、数据分析的系 …
揭秘顶尖科技前沿_4---KLA半导体设备全览-安徽锐芯智研半导体科 …
2024年9月3日 · CryoTemp晶圆旨在校准、改善均匀性和匹配静电吸附盘 (ESC)上的温度曲线，可实现对等离子体蚀刻腔体的快速工艺表征和控制. 监测并记录晶圆在设备传送路径上的振动和 …
[半导体检测-9]：KLA Surfscan SP1 SP3 SP5 SP7各自使用的激光器 …
2024年9月28日 · Surfscan产品系列是KLA科磊针对晶圆表面缺陷检测而开发的一系列高精度、高效率的检测设备。 这些 产品 采用先进的光学技术、图像处理算法和数据分析技术，能够实现 …
临界尺寸测量系统 - SpectraShape™ series - KLA Corporation - 维 …
利用光学技术和专利算法的先进性突破，SpectraShape 11k可以识别关键器件的参数（关键尺寸、高k和金属栅极凹槽、侧壁角度、光刻胶高度、硬掩模高度、间距偏移）的细微变化。 …
2万字长文：从KLA看量测设备的护城河 - 虎嗅网
2023年5月10日 · 行业龙头KLA将21~26年的长期复合增长目标设定为9~11%。 为了提升良率和产能，所有芯片制造阶段都需要过程控制，研发和HVM的挑战体现在精确度和速度上。 1）更高 …
PROテープカートリッジ 白ラベル SS12K | PROテープカートリッ …
PROテープカートリッジ 白ラベル SS12Kをご紹介します。 株式会社キングジムの公式ウェブサイトです。
キングジム 【純正】 テプラPROテープカートリッジ 1個 12mm 白ラベル/黒文字 長さ8m SS12K
2005年8月12日 · オンライン通販のAmazon公式サイトなら、キングジム 【純正】 テプラPROテープカートリッジ 1個 12mm 白ラベル/黒文字 長さ8m SS12Kを文房具・オフィス用品スト …
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