用于 IC 载板的生产流程管理和控制的全面解决方案组合。 通过基于面板的互联创新推动芯片性能提升。 我们是连接电子和光子光学、传感器技术以及人工智能的纽带。 从初始晶圆成为下一代芯片再到改变世界的理念，我们协助实现未来。 KLA是充满好奇心，智力挑战和行业转型的地方。 工作概述：拓宽视野，推动进步，享受过程。 我们开发并提供工艺控制和工艺促进解决方案，助力未来电子技术的发展。 我们出色的财务业绩推动全球创新。 我们从微观尺寸-埃、zettabytes和 …

1998-1999年，KLA连续收购了干涉测量(德国Nanopro)、扫描电子显微镜(美国 Amray)、产线图像管理(美国 VARS)和硅片缺陷分析(美国 Uniphase)等技术。 到了新世纪，KLA收购的脚步并没有减慢。据统计，迄今KLA-Tencor共收购了27家公司。

从1975年突破性的光罩检测设备为半导体工艺控制带来的曙光，到今天的宽带等离子技术能够快速发现缺陷 (“at the speed of light”)，我们总喜欢保持领先. 积极的合作可以提升思维的敏捷程度。 我们一直保持与合作伙伴们在战略、技术与经营等多方面的通力合作。 跨越地理位置的限制，全方位凝聚集体智慧，快速开发最优化的解决方案。 众所周知，我们具有从概念走向全球市场的能力。 通过自行开发、进行战略性收购以及跨系统技术共享，让我们的视角多样化 并扩大了我们的 …

KLA’s comprehensive portfolio of inspection, metrology & data analytic systems helps manufacturers manage yield through the entire IC fabrication process.

2015年10月22日 · 科磊 （KLA Corporation，原称KLA-Tencor Corporation）是一家美国公司，提供半导体制造相关的制程控管、良率管理服务。 该公司是1997年由KLA和Tencor两家公司合并形成的，前者成立于1975年，后者成立于1977年。

科磊 （英語： KLA Corporation，原稱KLA-Tencor Corporation）是一家 美國 公司，提供 半導體 製造相關的製程控管、良率管理服務 [1]。 該公司是1997年由KLA和Tencor兩家公司合併形成的，前者成立於1975年，後者成立於1977年 [2]。 合併後稱為KLA-Tencor，2019年1月10日宣佈改名為KLA。 改名在2019年7月正式生效 [3]。

合并之后，KLA提供高端自动化光学晶圆检测、光掩膜板检测和其他成品率检测工具，而Tencor则更专注于低成本、高吞吐量的成品率监控端和过程诊断分析。

绝对王者KLA. 说起前道量测设备，那么在这个领域有一家绝对霸主级地位的公司是无法绕开的，它就是——KLA。 KLA的全名应该是KLA-tencor，中文一般翻译为科磊。 很显然名字上一眼就能看出，KLA这家公司是由两家公司合并过来的。 目前KLA的主要业务部门包括：

科磊(英语:KLA Corporation,原称KLA-Tencor Corporation)作为工艺控制领域的行业领跑者，借助创新的光学技术、精准的传感器系统以及高性能计算机信息处理技术，持续研发并不断完善检测、量测设备及数据智能分析系统。

目前市场主要供应商为 KLA （Omni Map 系列）。 而透明薄膜则通常基于椭圆偏振技术，对光谱范围内的偏振变化进行分析，各种薄膜层提供 高精度薄膜测量，由于膜应力、折射率等物理性质同样需要椭圆偏振及干涉技术进行测量， 因此目前主流的膜厚测量设备同时集成了应力测量、折射率测量等功能，目前该类设备市场 主要供应商为 KLA（Aleris 系列、 SpectraFilm 系列）、 上海精测 （EFILM 系列） 关键尺寸扫描电子显微镜（CD-SEM）：关键尺寸即栅极线条宽度，通常是指 …