XAFS（全称是X-ray Absorption Fine Structure），即X射线吸收精细结构谱，是用于描绘局部结构最强有力的工具之一。 在此技术中，我们将X射线能量调整至与所研究的元素中内电子层一致，再用于探测样品，然后监测吸收的X射线数量与其能量的函数关系。

XAFS（X-ray absorption fine structure）即为 X射线吸收精细结构 也叫做 X射线吸收谱 （X-ray absorption spectroscopy，XAS）。而XANES（X-ray Absorption Near-Edge Structure，XANES）叫做X射线吸收近边结构，指的是吸收边前10 eV到边后30-50 eV的区域；而扩展边X射线吸收结构（Extended X-ray ...

2019年6月13日 · Herein, we demonstrate the structural identification of Zn-N 2 active sites with both experimental/theoretical X-ray absorption near edge structure (XANES) and extended X-ray absorption fine...

Artemis 对 XAFS 数据拟合是重点也是难点，通过拟合可以得到配位数N、原子间距离R、无序度s. 、能量原点的位移ΔE0等结构参数。 本次介绍内容包含四部分： 1、利用Artemis程序进行 EXAFS 拟合的一般步骤. 2、Artemis拟合的基本流程. 3、Artemis数据拟合基本操作. 4、拟合结果合理性判断. 1、利用Artemis程序进行EXAFS拟合的一般步骤. Artemis: the goddess of the hunt, an apt metaphor doing EXAFS analysis. 输入文件为不加权的EXAFS振荡函数χ (k)； Artemis本身不能 …

2021年5月10日 · X 射线吸收精细结构（X-ray Absorption Fine Structure，XAFS）是一种基于同步辐射 X 射线源的光谱分析方法，可进一步分为 X 射线近边吸收精细结构（XANES）和扩展 X 射线吸收精细结构（EXAFS）。 XAFS 在近十几年来迅速发展，并成为表征材料结构的常规方法。 本文介绍 XAFS 方法的发展历程、基本原理以及其在纳米电催化材料结构表征中的应用。

XANES 谱分析的关键:终态!包括什么态才是可以允许跃迁的(跃迁规则),及能够跃迁多少(态密度)。 分子轨道和晶体场理论:轨道相互作用,对称性与杂化! ¤ 入射X射线激发芯电子¤ 测量入射X射线的非弹性散射。 ¤ 测量轻元素谱. τ~飞秒量级元素Z越高,寿命越短,能量展宽越大(测不准关系)高Z 元素的XANES实验谱特征被“抹”了!低Z 元素的“ NEXAFS” 很“ sharp”! 1. 指纹效应-1. 1. 指纹效应-1. 1. 指纹效应-1. Cr 箔,Cr 2O 3,Ca 5Cr3O 12, Ca10Cr6O 25 ,Ca 3Cr2O 8, CaCrO的Cr K‐ 边XANES …

软x射线XAFS简介 在软x射线波段（100~2000eV），吸收谱研究工作主要集中 在： 1、 C、 N、 O等轻元素的 K 边 ； C的K边~280eV N的K边~390eV OO的K边~530eV 2、钛、钒、铁、锰等过渡族元素的L 边； 过渡族金属的过渡族金属的L边大部分在 400 1000 V400~1000eV 3、部分镧系稀 …

利用球差电镜，XAFS等表征手段结合DFT计算，证实以Pd-O键的形式将钯原子锚定在载体上，形成了独特的“钯-乙二醇-二氧化钛”的界面，相关工作发表于Science（DOI: 10.1126/science.aaf5251）。

xafs就是利用x射线入射前后信号变化来分析材料元素组成、电子态及微观结构等信息的光谱学手段（图2）。 XAFS方法通常具有元素分辨性，几乎对所有原子都具有相应性，对固体（晶体或非晶）、液体、气体等各类样品都可以进行相关测试。

俄歇效应: 1925年法国物理学家俄歇(P.Auger)发现,当元素原子壳层中由X射线入射或其他方式产生空穴时,产生X 射线荧光是释放能量的一种方式,但另一种方式也可能是发射一个电子。如原子在K层中有个空穴,当L层的一个电子跃迁到K层时,多余的能量可以释放出X射线, 也可以不释放X 射线而把能量传给另一层( 如M层)中的一个电子,这个电子就可以脱离原子并被称为俄歇电子。 这些电子的动能与入射的X射线频率无关,只随被照射的原子而异,这种效应称为俄歇效应。 ...... 其中R为总路 …