FX7AE-M-250 is a full functional tester for PCIe 5.0 SSD Drives. Desktop, Chambers, and Racks are offered to support EVT, DVT, RDT, and HVM. DUT Module based systems. Temp ranges: A: Ambient Rack with individual fan controls. B: Ambient +10℃ to +70℃. E: -10℃ to +85℃. ER: -40℃ to +120℃. Various form-factors: M.2, U.2, U.3, EDSFF (E1.S, E1.L, E3)

NEOSEM provides Total Solutions. Total Solutions from Product developement to High Volume automated test equipment for SSD, Custom Flash Arrays and semiconductor memories in collaboration with our customers WHAT WE DO

FX7AE-M-250是PCIe 5.0SSD驱动器的全功能测试仪 桌面、温箱和机架提供支持EVT、DVT、RDT和HVM 基于DUT模块的系统。 锐伺Neo深耕于SSD Test 固态硬盘测试、Memory、Burn-In Test 内存老化测试、DRAM模块测试、Automation自动化、先进封装等各类自动化设备研发、精密机械加工及智能产线定制，为用户提供软硬件一体化解决方案和技术服务。 同时也是韩国Neosem在国内的唯一指定代理商。

FX7AE-M-250是PCIe 5.0SSD驱动器的全功能测试仪 桌面、温箱和机架提供支持EVT、DVT、RDT和HVM 基于DUT模块的系统。 FX系列是用于SSD驱动器的高性能功能测试仪，使用Gen 5.0 CPU以降低成本、高并行性以及增强的特性和功能，利用和扩展FX7平台中板以实现高并行性，从FX7平台继承的电源和DUT接口板。

基于DUT模块的系统。 优化了HVM制造中协议测试的成本，可根据客户独特要求支持边带和OOB信号，NIST校准每个DUT的独立电源，支持异步或批处理模式测试。 Copyright © 2024 REALSYS All Rights Reserved.

HDR-FX7E，录制各式为HDV 1080i，1/4”3晶锐CMOS影像传感器，像素约104万。 *1.聚焦长度数值是由广角像素读出产生的实际数值。 *2.*“Exif”是由JEITA（日本电子情报技术产业协会）制订的静像文件格式。 采用此格式的文件可以包含附加信息，如录制时的摄像机设定信息。 *3.采用基于112万总像素的ClearVid CMOS传感器 和增强型 影像处理器 (Enhanced Imaging Processor)的像素插值技术。 *4.其他规格请参看交流适配器上的标签。 HDR-FX7E是数码相机产品。 HDR …

The SX2 Tester of NEOSEM (Tanisys) can support DevSleep mode for SATA3 6G device. Please contact us, if you want to test SSD product in your test line. We have a lot of mass production test solutions.

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产品说明 FX7B是一款环境SSD测试仪（±10℃至70℃）高密度，可实现高达112 Para的出色并行

The Neosem’s SSD test system combines advanced SSDtest hardware, software and environmental chamber into a single platform and supports all popular storage interfaces including PCIe, SAS & SATA and fast emerging protocols such as NVMe and AHCI. View product information for SSD Test System.