Photoemission electron microscopy (PEEM, also called photoelectron microscopy, PEM) is a type of electron microscopy that utilizes local variations in electron emission to generate image contrast. [citation needed] . The excitation is usually produced by ultraviolet light, synchrotron radiation or X-ray sources.

PEEM is a type of emission microscopy that generates image contrast by utilizing the local variations in electron emission. To excite the electron, sources of energy such as X-ray radiation, UV light, or synchrotron radiation are used. Since the electron emission is from a shallow layer, the surface of the sample is very sensitive.

PEEM, also called photoelec-tron microscopy (PEM), is the most widely used type of emission microscopy and is closely related to the more recently developed low-energy electron microscopy (LEEM) (Bauer, 1994).

光发射电子显微镜（PEEM，也称为光电子显微镜，PEM）是一种电子显微镜，它利用电子发射的局部变化来产生图像对比度。 激发通常由紫外线，同步辐射或X射线源产生。 PEEM通过收集发射的二次电子间接测量系数在吸收过程中随着初级纤芯空穴的产生而在电子级联中产生的电子。 PEEM是一种表面敏感技术，因为发射的电子来自浅层。 在物理学中，这种技术被称为PEEM，这自然变为连同低能量电子衍射（LEED）和低能量电子... 光发射 电子 显微镜 （PEEM，也称 …

2019年1月1日 · Photoemission electron microscopy (PEEM) is a cathode lens electron microscopy technique. This specialized electron microscopy technique excels in studying the morphology, electronic and chemical properties and the magnetic structure of surfaces and thin film materials with nanometer-scale spatial resolution.

成像.leem/peem是代表性的投影型电子显微 镜,成像过程中不需要进行电子或样品的位置扫描. 对LEEM来讲,成像的强弱对比主要来源于两个方

2025年3月18日 · PEEMは、電子レンズを用いることで、数十nmの高い空間分解能を実現できます。 表面敏感な分析 PEEMで検出される光電子の運動エネルギーは数eV程度であるため、試料表面の情報を選択的に得ることができます。

2024年5月15日 · 光发射电子显微镜（PEEM）又称光发射电镜、光电子显微镜，是一种电子显微成像设备，主要利用发射X射线或紫外光，激发物质表面并探测其表面原子释放的电子成像。 光发射电子显微镜通常由探测器、电子枪系统、电源、样品系统、照明系统等部分组成，其中探测器是光发射电子显微镜的核心探测设备。 光发射电子显微镜可配合氘灯、氦灯、X射线源、电子束、离子束、同步辐射等多种激发源使用。 基于X射线源的光发射电子显微镜（XPEEM）主要有两 …

2018年8月8日 · 光发射电子显微镜 (Photoemission Electron Microscopy, PEEM)是利用光电效应原理，以紫外光或X射线光来激发固体表面原子中的电子，采用先进的电子光学系统对表面光电子进行聚焦、放大，实现固体表面成像研究的新技术。 PEEM的成像过程与透射电子显微镜（TEM）技术相似，利用了平行电子束成像而无需表面扫描过程，可以实现快速成像。 另一方面，PEEM与X-射线光电子能谱 (XPS)和紫外光电子能谱（UPS）等技术均利用了表面光电效应原理，其成像 …

2023年5月4日 · By employing electrostatic lenses, we can focus and detect these electrons to construct an image of the sample. The photoemission intensity depends on the physical and chemical structure of the material, enabling photoemission electron microscopy (PEEM) to image materials with chemical contrast (Figure 2.).