QCM-D measures changes of both frequency, f, and dissipation, D. The D -value gives information about the energy loss in the system, and reveals how soft, or viscoelastic the layer at the surface is.

通过该公式衍生出来的石英晶体微天平耗散技术(Quartz Crystal Microbalanc with Dissipation， QCM-D)可以精确的给出由耗散导致的频率损失，从而可以进一步了解材料内部性质。

具有耗散功能的石英晶体微天平（QCM-D）是一种实时纳米分析技术，可用于分析包括薄膜形成、相互作用和反应等表界面现象。 QCM芯片由夹在一对电极之间的薄石英片组成。 通过施加交流电压，芯片可以被激发，以特有的共振频率振荡。 共振频率取决于芯片和芯片表面粘附层的总质量，其中也包括耦合水。 当薄膜吸附到芯片上时，共振频率会降低。 如果吸附膜薄而坚硬，频率的下降与吸附膜的质量成正比。 在这种情况下QCM得到的数据非常精准。 与其他QCM不同的 …

Within surface science, a quartz crystal microbalance with dissipation monitoring (QCM-D) is a type of quartz crystal microbalance (QCM) based on the ring-down technique. It is used in interfacial acoustic sensing. Its most common application is the determination of a film thickness in a liquid environment (such as the thickness of an adsorbed ...

在QCM-D测量中，耗散因子D提供了与频率响应互补的信息，但是如何理解这些信息呢？ 在本文中，我们将更深入地研究芯片在各种负载下的振荡行为，并仔细研究耗散因子D所揭示的信息。 当芯片表面负载有薄而刚性的薄膜时，振荡频率将降低，这是质量增加的标志。 根据Sauerbrey关系式，此时的振荡频率（f）的降低与质量或厚度的增加呈线性关系： 其中常数C为材料特性，n为协频数，n = 1为基频。 对于基频为5 MHz的石英晶体，常数C为17.7 ng/ (cm 2 ∙Hz)。 薄而刚性的 …

耗散型石英晶体微天平（qcm-d）是石英晶体微天平（qcm）的扩展型，qcm 是一种从 60 年代沿用至今的用于测量真空或气相中表面质量变化的技术。 QCM 技术可以实时测量芯片表面上吸附或损失的质量，因此非常适合测量诸如电子半导体器件或光学薄膜等薄膜沉积 ...

2021年3月24日 · Quartz crystal microbalance with dissipation (QCM-D) monitoring is a powerful tool used to sensitively examine the real-time responses of polymer films to external responses. For example, the technique is commonly used to monitor film growth, material adsorption, thin film swelling, and ion exchange.

Quartz Crystal Microbalance with Dissipation monitoring, or QCM-D for short, is a surface sensitive, label-free technology that measures mass changes at the surface with nanoscale resolution, as well as the viscoelastic properties of the surface-adhering layer.

仪器简介： qcm 最基本的原理是利用了石英晶体的压电效应， 是一种在纳米尺度上进行界面相互作用研究的工具。 而 QCM-D 能够追踪自由振动的芯片的频率和能量耗散变化。

In brief, QCM-D is an extended version of QCM. Thanks to the additional measured parameter, the dissipation, it is possible to reveal whether the film is rigid or not, and if the Sauerbrey equation can be used for the quantification of mass. Multi-harmonic QCM-D technology enable quantifi-cation of mass and thick-ness of rigid as well as of