Quanta™ 650 FEG Discover the “any sample, all data” solution for ultimate versatility and high resolution SEM Addressing the need to investigate a wide variety of materials and characterize structure and composition, the FEI Quanta FEG provides unmatched flexibility to increase both

QuantaTM 650 FEG 查看真正的高分辨率多功能扫描电子显微镜 (SEM) 具有何种功能 FEI QuantaTM 可用于研究各种材料并表征材料的结构与成分，同时提供无与伦比 的灵活性，提高了性能与通用性，可应对当今广泛研究领域的各种挑战，满足多 方需要。

Quanta 650 Features: High resolution Schottky field emission; SEM column optimized for high brightness/high current; High vacuum imaging with beam deceleration up to 4 kV: Landing energy: 200 V to 30 kV; Imaging resolution in high vacuum mode at 30 kV: 0.8 nm (STEM), 1.0 nm (SE), 2.5 nm (BSE) Wet STEM stage for viewing TEM samples/ ESEM samples

Purpose –The FEI Quanta FEG 650 scanning electron microscope is a variable pressure microscope capable of resolving features at a scale of ~5 nm on samples up to 6-inch in size. The SEM is equipped with 8 detectors for imaging and analysis. This document describes important information and basic operation procedure for imaging.

Quanta 50 FEG系列是基于前两代成功的肖特基场发射环境扫描技术开发的第三代Quanta系列产品。 这一系列产品用户界面使用起来十分方便、灵活，有多种功能zui*程度地发挥其使用效率，并且允许采集所有需要的数据。

The FEI Quanta 650 FEG scanning electron microscope (SEM) is used for high-resolution imaging and semi-quantitative X-ray microanalysis of both conductive and non-conductive specimens at nanometer resolution (magnification range from 5-1,000,000x).

Quanta 50 FEG系列是基于前两代成功的肖特基场发射环境扫描技术开发的第三代Quanta系列产品。 这一系列产品用户界面使用起来十分方便、灵活，有多种功能最大程度地发挥其使用效率，并且允许采集所有需要的数据。

Quanta-650-FEG-ds_CN-主要优点• 采用环境扫描显微 (ESEM) 技术，打造唯一的 高分辨率 FEG-SEM 产品• 可表征导电和非导电样品，且在各操作模 式下均可能实现二次电子 (SE) 和背散射电子 (BSE) 成像• 最大限度减少样品制备量；低真空和环境扫 描 (ESEM) 功能可实现无电荷成

目前主要仪器有fei quanta 650 扫描电子显微镜及oxford x-max 250能谱分析仪分析，离子溅射仪等。 主要功能： 加速电压在200V－30KV，束流最大2?A并连续可调 放大倍率是6倍-10万倍，分辨率最高能到4nm。

在 Quanta 的“ 经由透镜抽气”专利技术产生的高真空和低真空环境中对导电和非导电样品进行能谱 (EDS) 和电子背散射 (EBSD) 分析, 以提高分析能力。 稳定的高射束电流 (达到 200 nA) 可实现快速、准确的分析. FEI QuantaTM 可用于研究各种材料并表征材料的结构与成分,同时提供无与伦比的灵活性, 提高了性能与通用性, 可应对当今广泛研究领域的各种挑战,满足多方需要。 观察样品, 获取所有相关数据:将显微镜附件与表面形貌和成分图像结合使用, 确定材料特性及其化学元素组成 …