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Semitronix推出精确的前端电容测试方案 | 广立微
Semitronix推出精确的前端电容测试方案——Addressable QVCM电容测试技术，其测量前端电容的精度可以达到1fF，同时能够精确测试并绘制多个电容测试项的C-V曲线
Front-end-of-line quadrature-clocked voltage-dependent capacitance ...
We report on Front-End-Of-Line Quadrature-clocked Voltage-dependent Capacitance Measurement (QVCM), a charge based capacitance measurement technique applicable to …
A Calibration-Free Mismatch-Immune Quadrature-Clocked
Abstract: In this paper, we propose a calibration-free mismatch-immune quadrature-clocked voltage-dependent capacitance measurement (CFMI-QVCM) method. It is specially applied to …
CN206369766U - 基于qvcm电路的电容测试芯片 - Google Patents
本实用新型公开了一种基于qvcm电路的电容测试芯片，其包括片上时钟发生器电路、寻址电路、qvcm电路单元以及若干连接到各电路的焊盘；所述片上时钟发生器电路连接寻址电路和qvcm …
一种电容测试电路及其测试方法与流程 - X技术网
2023年9月14日 · 3、相关技术还提出了qvcm(quadrature-clocked voltage-dependent capacitancemeasurement)的测试方法，如图1所示：将多个dut(待测器件)的其中一端并联 …
Combined C-V/I-V front-end-of-line measurement - IEEE Xplore
2012年3月22日 · The structure is simple enough to be used for technology development, requires only first metal for routing, and allows parallel test. It is an extension of FEOL QVCM …
基于QVCM电路的电容测试芯片的制作方法 - X技术网
上述QVCM的测试方法弥补了CBCM的charge injection(电荷注入)等误差缺陷，成为前端电容测量的主要测试方法，但是仍然存在输入信号引起寄生电容以及测试芯片占用面积过大而不适用现 …
基于qvcm电路的电容测试芯片 Based on test chip capacitor circuit qvcm
本实用新型公开了一种基于qvcm电路的电容测试芯片,其包括片上时钟发生器电路,寻址电路,qvcm电路单元以及若干连接到各电路的焊盘;所述片上时钟发生器电路连接寻址电路和qvcm …
Front-end-of-line quadrature-clocked voltage-dependent capacitance ...
2011年4月1日 · We report on Front-End-Of-Line Quadrature-clocked Voltage-dependent Capacitance Measurement (QVCM), a charge based capacitance measurement technique …
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