SDY-4型四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻 (薄层电阻)测试专用仪器. 仪器以大规模集成电路为核心部件,采用平面轻触式开关控制,及各种工作状态LED指示.应用微计算机技术，利用HQ-710E型测量数据处理器，使得测量读数更加直观、快速，并能实现晶片厚度自行修正，打印出全部预置和测量、计算数据。 整套仪器体积小、功耗低、测量精度高、测试速度快、稳定性好、易操作。 SDY4四探针测试仪 本 …

SDY-4型四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻 (薄层电阻)测试专用仪器. 仪器以大规模集成电路为核心部件,采用平面轻触式开关控制,及各种工作状态LED指示.应用微计算机技术，利用HQ-710E型测量数据处理器，使得测量读数更加直观、快速，并能实现晶片厚度自行修正，打印出全部预置和测量、计算数据。 整套仪器体积小、功耗低、测量精度高、测试速度快、稳定性好、易操作。 SDY4四探针测试仪 本 …

该 仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美 国 A.S.T.M 标准而设计的，专用于测试半导体 材料电阻率及方块电阻 (薄层电阻)的专用仪器。 测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控 制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后 以表格，图形方式统计分析显示测试结果； *.RTS-4所有的特性和规格跟RTS-8一样。 不同处 RTS-8测量范围比RTS-4宽. *.RTS-5所有的特性和规格跟RTS-9一样。 不同处 RTS-9测量范围比RTS-5宽. 敬告用户：因我司生产的测试仪器 …

该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M 标准而设计的，专用于测试金属材料电阻率及方块电阻 (薄层电阻)的专用仪器。 计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果； 以上配置只是通用标准配置，用户可按测试样品实际测试需求选择不同配置，如有疑问请来电、来函咨询。 如果是招标采购请把配置也写到招标文件； 以上配置只是通用标准配置，用户可按测试样品实际测试需求选择不同配置，如有疑问请来电 …

RTS-8 型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。 该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M 标准而设计的, 专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻) 的专用仪器。 仪器由主机、 探针测试台、 四探针探头、 计算机等部分组成,测量数据既可由四探针测试仪主机直接显示, 亦可与计算机相连接通过四探针软件测试系统控制四探针测试仪进行测量并采集测试数据,把采集到的数据在计算机中加以分析, 然后把测试数据以表格, 图形 …

sdy-4型四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国a.s.t.m标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)测试专用仪器.

2018年5月14日 · SDY-4型四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻 (薄层电阻)测试仪器. 仪器以大规模集成电路为核心部件,采用平面轻触式开关控制,及各种工作状态LED指示.应用微计算机技术，利用HQ-710E型测量数据处理器，使得测量读数更加直观、快速，并能实现晶片厚度自行修正，打印出全部预置和测量、计算数据。 整套仪器体积小、功耗低、测量精度高、测试速度快、稳定性好、易操作。 SDY4 本 …

SDY-4型四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻 (薄层电阻)测试仪器.仪器以大规模集成电路为核心部件,采用平面轻触式开关控制,及各种工作状态LED指示.应用微计算机技术，利用HQ-710E型测量数据处理器，使得测量读数更加直观、快速，并能实现晶片厚度自行修正，打印出全部预置和测量、计算数据。 整套仪器体积小、功耗低、测量精度高、测试速度快、稳定性好、易操作。 SDY4四探针测试仪 本仪器 …

SDY-4型四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻 (薄层电阻)测试专用仪器. 仪器以大规模集成电路为核心部件,采用平面轻触式开关控制,及各种工作状态LED指示.应用微计算机技术，利用HQ-710E型测量数据处理器，使得测量读数更加直观、快速，并能实现晶片厚度自行修正，打印出全部预置和测量、计算数据。 整套仪器体积小、功耗低、测量精度高、测试速度快、稳定性好、易操作。 C键盘控制打印全部测 …

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