衍射花样不仅是所有晶体学分析和缺陷表征的基础，也是TEM中所有图像形成的基础。 相比于SEM和光学显微镜，确定局域（小到纳米量级）晶体学取向的能力是TEM的一大优势。 第一次看到这样的衍射花样，可能会有以下疑问： 这是什么？ 能从中得到什么？ 为什么要观察它？ 图片尺度是由什么决定的？ 点间的距离或线的位置由什么决定？ 想要了解样品的哪些性质呢？ 对于一个材料科研工作者，完美晶体常常是很枯燥的，且往往可以通过其他的技术手段更好地去研究， …

Selected area (electron) diffraction (abbreviated as SAD or SAED) is a crystallographic experimental technique typically performed using a transmission electron microscope (TEM). It is a specific case of electron diffraction used primarily in material science and solid state physics as one of the most common experimental techniques.

上一期我们讲了怎么标定tem的选区电子衍射（saed）花样，但是留了一个遗憾.....那就是我们只讲了标定单晶的电子衍射，那么多晶的时候呢？ 这一期我们就来讲讲多晶衍射环的标定多晶的电子衍射结果是一个近似的环形…

选区 电子衍射 (SAED,selected area electron diffraction)由选区形貌观察与电子衍射 结构分析 的微区对应性，实现 晶体 样品的形貌特征与 晶体学 性质的 原位分析。 简单地说，选区 电子衍射 借助设置在 物镜 像平面的选区光栏，可以 对产生 衍射的样品区域进行选择，并对选区范围的大小加以限制，从而实现形貌观察和电子衍射的微观对应。 选区电子衍射的基本原理见图。 选区光栏用于挡住光栏孔以外的 电子束，只允许光栏孔以内视场所对应的样品微区的成像电子束通过，使 …

Selected area electron diffraction (SAED) patterns are a projection of the reciprocal lattice, with lattice reflections showing as sharp diffraction spots [3]. By tilting a crystalline sample to low-index zone axes, SAED patterns can be used to identify crystal structures and …

SAED可以判断样品是否是单晶，FFT可以知道单晶的结晶性优劣。 高分辨照片的拍摄范围肯定很小，所以傅立叶变换所计算的范围也很小，而选区电子衍射一般都在小倍数拍摄。 所以相对来说傅立叶变换是微区的精确信息，电子衍射一般是较大范围的平均信息。 高分辨照片的拍摄范围肯定很小，所以傅立叶变换所计算的范围也很小，而选区电子衍射一般都在小倍数拍摄。 所以相对来说傅立叶变换是微区的精确信息，电子衍射一般是较大范围的平均信息。 十分感谢！ 再请教一 …

依次用鼠标左键点击（1）与（2）斑点的中心位置，然后会发现在（0）斑点中心自动出现一个黑点（如下图），该点即为选中的基点。 在该示例中的操作为，从下向上依次点击（点击次序是有编号的，就是上图白色小方框内的黑点，放大可看清是编号），将所需要标注的衍射斑点击完毕后。 在下图菜单中. 该对话框为刚刚选中的各衍射斑列表，最左为各点的序号，第二列为 d值，根据d值与 XRD 中数据或已知的晶面间距，可以判断出各衍射斑所代表的方向。 根据需要对各斑点进 …

2021年10月15日 · 在SAED中，每个点代表实际晶体中的一组晶面，因而可以通过测量各点到原点的距离，来确定各点所代表晶面的晶面间距，最终确定该衍射点对应晶面的晶面指数。 由于SAED为倒易点阵，其各点均可由原点通过平移得到，因此在未确定原点前，各点均可视为等效点，即衍射花样中的各点均可作为原点。 一般人们会选择在衍射花样中最亮最大的点（该点通常为电子束直接透射形成）作为原点。 但若该点不再阵列中心，则也可选择阵列实际中心点作为原 …

2023年7月3日 · 透射电子显微镜( TEM) 能在纳米尺度上实现对待测样品形貌、 尺寸的分析; 结合选区电子衍射(SAED) ，可以更进一步实现对待测样品的晶体结构、 晶相组成的鉴定，从而提高样品分析的准确度和可靠性。一张好的TEM图能让你的paper更自信更完美。

2018年6月29日 · saed 与 tem 联合分析的优点. 在纳米材料研究中，有时需要获得包括试样形. 貌、成分、晶体结构、晶相组成在内的丰富资料，以便. 能够全面、客观地进行判断分析． 单纯的 tem 只能. 获得选定区域样品的二维图像信息 [6 －7] ，而采用. tem 和 sead 联合分析，具备 ...