In electrical engineering, a shmoo plot is a graphical display of the response of a component or system varying over a range of conditions or inputs.

2023年9月2日 · Shmoo测试是芯片测试中一种常用的技术手段，其方法是选取两个与芯片性能相关的指标，如最大工作频率与电源电压，分别在两个维度上对这两个指标进行扫描，并在X-Y的二维坐标系中对扫描的结果进行显示，从而可以比较直观地显现这两个被选取变量之间的 ...

用于评价芯片实际能力，通常使用 SHMOO PLOT 工具进行分析。 同时改变两个相互关联的参数，执行功能测试。 红色 Fail区域，绿色pass区域，得到边界故障点。

2024年9月28日 · Shmoo 图是用于 验证集 成电路器件性能的可视化工具，其中图中的每个单元记录被检查的器件在测试条件下是否正常运行。 在识别设备状态时，shmoo 图中出现的整体通过/失败模式比单个条件的测试结果更重要。 由于相似的 shmoo 图表示相似的器件特性、缺陷原因和工艺特性，因此工程师可以通过对 shmoo 图模式进行分类来分析器件质量和缺陷原因。 Shmoo图以紧凑的方式说明了功率不足对 性能 的影响。 当然，Shmoo 图可以说明扫描更多的效果变量 …

2024年7月25日 · Shmoo Plot是一种二维图表，用于 显示芯片在不同条件下的性能表现。 它通常用来表示电压和频率等参数的变化对芯片功能的影响。 名字来源于《Li'l Abner》中的虚构生物Shmoo，因为这种图表的形状与Shmoo类似。 Shmoo Plot的工作原理. Shmoo Plot通过对两个变量（如电压和频率）进行扫描，并将结果显示在二维坐标系中。 这种图表可以直观展示芯片在不同条件下的工作情况，为工程师提供宝贵的调试信息。 Shmoo被证明是一种高效debug ATE测 …

Shmoo plots play a vital role in debugging. These plots are helpful to nail down the electrical failures in a circuit under test. The patterns provided by DFT engineers are tested by the test-engineers under different process conditions and with …

2024年8月2日 · Shmoo Plot是一种二维图表，用于显示芯片 在不同条件下的性能表现。 它通常用来表示电压和频率等参数的变化对芯片功能的影响。 名字来源于《Li'l Abner》中的虚构生物Shmoo，因为这种图表的形状与Shmoo类似。 Shmoo Plot通过对两个变量（如电压和频率）进行扫描，并将结果显示在二维坐标系中。 这种图表可以直观展示芯片在不同条件下的工作情况，为工程师提供宝贵的调试信息。 Shmoo被证明是一种高效debug ATE测试的手段，例如面临hold …

通过Shmoo图，工程师可以直观地解析大量的数据，为质量控制、可靠性评估和决策提供关键信息。 烦恼如浮云遮月，写写脚本净心静气。 Python脚本目标： 本脚本旨在将ATE测试数据转化为Excel中的Shmoo图，并对多个芯片数据进行叠加显示：

IDS offers shmooPLOT, the industry's only solution that provides both a specialized interface for database access of shmoo data, and a comprehensive set of analysis functions. shmooPLOT provides a powerful means of handling shmoo test data, dynamic analysis and charting functions, and gives you unique perspectives on condition analysis ...

2022年10月11日 · Sweeping a test condition parameter through a range and obtaining a plot of the results. In semiconductor testing, shmooing is the testing technique of sweeping a test condition parameter through a range to look at the device under test in operation as it would perform in the real world.