The FTIR spectrum of the sample confirms the presence of SiO2. The X-ray diffraction (XRD) shows that the sample is cristobalite type of SiO2 which is comparable with ICSD ref. number of...

The obtained XRD (Fig. 2c) of the AC-Bi@SiO2 shows that intense peaks at 22.3°, 24.3°, 25.6°, 40.8°, 46.5°, 49.9°, 55.5° and 60.7° are the diffractions of the Bi (003), (101), Si (101), Bi ...

Crystallite size and lattice strain were analyzed using several methods: modified Scherrer, Williamson-Hall, and Size-Strain Plot. Fig. 1 shows XRD spectra of SiO2 annealed at 800 °C and 1000...

2015年1月1日 · In this paper, silica nanoparticles were synthesized from tetraethylorthosilicate (TEOS) as a precursor and PVP as a surfactant by employing sol-gel method. By XRD measurement, a broad peak of pure amorphous nature is observed while FTIR analysis showed hygroscopic nature of particles.

x射线衍射（xrd）是一种常用的技术，可用于分析纳米材料的晶体结构。 本文将介绍纳米二氧化硅在XRD衍射图谱中的标准峰值，以便科研人员和工程师更好地理解和分析该材料的结构性质。

样品1取样于单晶硅样品，比较样品1的衍射图与标准单晶硅的衍射图，存在非常大的差距，由此可认为该样品不是单晶硅。 样品2取样于SiO2，观察样品2的衍射图，发现没有明显的突触，说明测定失败或者样品杂质含量高货或者不是晶体。 通过这次实验，初步了解晶体结构的XRD消光规律，观摩了X射线衍射仪操作过程，并通过对数据的处理和分析，初步学会如何通过XRD方法鉴定物 …

纳米SiO2颗粒的物相研究. 温度在400一800°C,保温时间为3h时,对热解稻壳得到的SiO2粉体样品进行XRD检测分析,发现在400°C和500°C时,得到的样品中存在一些未燃烬的碳,将温度升高到600°C700°C800°C时,发现样品的XRD图谱都为圆丘状的衍射峰,说明SiO2在800°C以下时候,不会 ...

2017年8月20日 · 样品2取样于SiO2，观察样品2的衍射图，发现没有明显的突触，说明测定失败或者样品杂质含量高货或者不是晶体。 总结 通过这次实验，初步了解晶体结构的XRD消光规律，观摩了X射线衍射仪操作过程，并通过对数据的处理和分析，初步学会如何通过XRD方法鉴定 ...

通过硅酸钠溶液与H2SO4溶液的中和反应，优化了合成无定形SiO2颗粒的实验条件。 通过XRD、FT-IR、FE-SEM、EDS和微电泳对无定形SiO2颗粒进行表征。 无定形峰位于 XRD 图中的 2θ = 21.8o。 初级 SiO2 颗粒大小约为 15 至 30 nm，它们会聚集成更大的颗粒。 无定形 SiO2 颗粒的比表面积高达 130 m2g-1，具体取决于沉淀过程的参数。 无定形 SiO2 颗粒的 EDS 谱没有显示硫酸盐或其他离子的污染，这些都不能排除在痕量之外。 pHzpc =1.7 通过微电泳获得。 通过硅酸 …

XRD patterns of pure SiO2 (a), the SiO2@YVO4:Yb 3+ ,Er 3+ samples (b), bulk YVO4:Yb 3+ ,Er 3+ powders annealed at 700 @BULLET C (c). [...] In this paper, the core–shell structured...