2021年7月13日 · TLP测试技术 最早由Maloney和Khuranal在1985年引入的，用于研究集成电路器件在ESD事件发生时电压和电流在时域上的关系。目前TLP测试已经成为ESD防护设计中必不可少的手段。

2023年11月7日 · Cat-M1，也称为 LTE Cat-M，是 3GPP 开发的低成本 LPWAN 技术，作为第 13 版 LTE 标准的一部分。 它是 NB IOT 的补充技术，上传和下载速度更快，可达 1Mbps，延迟较低，为 10 至 15ms。 但与其他选项相比，Cat-M1 的真正优势在于 Cat-M 与流行的 LTE 网络兼容。 对于 Verizon 和 AT&T 等运营商来说，这通常是个好消息，因为他们不需要花钱创建新天线。 只要设备在其 LTE 网络中运行，他们就只需上传新 软件 即可。 这两家公司的主要客户群可能会 …

2022年12月1日 · TLP（Transmission Line Pulse）传输线脉冲发生器，这是目前分析ESD最重要的仪器手段之一。 MK2测试仪只能反馈通过与否，是一个静态的测试过程。 而TLP能实时反应芯片的I-V曲线，是一个动态的测试过程。 TLP不仅能模拟HBM波形也能模拟CDM和MM波形，同时也能连接浪涌发生器。 图六.TLP仪器照片。 （图源网络） 图六中可以看出TLP配备有脉冲发生器，探针台，真空泵，示波器等设备。

TLP: Transmission Line Pulse，传输线脉冲发生器；是一种 集成电路静电放电防护技术 的研究测试手段。 TLP测试通过将悬空电缆充电至预定电压并将其放电至被测器件（DUT）来生成方波。 通过改变电缆长度和滤波器特性，很容易改变脉冲宽度和上升时间。 二，TLP测试与标准. 2010年，IEC提供了元件级TLP测试标准： IEC62615:2010 Electrostatic discharge sensitivity testing – Transmission line pulse (TLP) – component level。 标准定义了一种脉冲测试方法，用于评估 …

Long Term Evolution Category 1（长期演进技术类别1）即LTE CAT 1 是一种众所周知的LTE标准，广泛应用于全球物联网通信行业。 由 3GPP （第三代合作伙伴计划）（第8版）在2008年推出以用于物联网，自推出以来一直保持显著增长。 LTE Cat 1 因其广泛的覆盖范围和低成本优势而广受欢迎。 LTE Cat 1 专为功能繁杂的物联网应用而设计，目前被认可为不可或缺的连接技术。 LTE CAT 1 使用技术优越并可全球部署的动态系统，在全球范围内提供最佳的物联网解决方案。 换 …

2022年1月21日 · TLP（Threshold Leak ...通过TLP等测试，工程师可以更准确地评估和优化ESD防护器件的设计，以保护电子设备免受潜在的静电损害。 ESD 模型 与 测试 标准详解：从HBM到 TLP

2024年4月26日 · Cat-M1也称为 LTE-M，也是3GPP作为LTE标准第13版的一部分开发的低成本LPWAN技术。 它是NB-IoT的补充技术，速度更快，上传和下载速度为1Mbps，延迟时间更低，为10到15毫秒。 Cat-M1提供足够快的带宽，可以替代许多当前的2G和3G IoT应用程序。 它与NB-IoT在其他方面有所不同：Cat-M1支持蜂窝塔式越区切换，因此可与移动应用程序配合使用，例如资产跟踪和车队管理。 它还支持物联网应用程序中的语音功能，例如医疗警报设备和家庭报 …

2021年6月30日 · 针对CatM网络，运营商可以在已有的LTE频段内直接部署CatM，不需要再单独分配频谱，在复用现有LTE的网络基础设施上，进行少量设备投资之后，就可对CatM网络的支持。

2019年11月23日 · vfTLP测试的动机是能在CDM时域中进行器件脉冲表征和电压/电流测量。 在标准实践文件中 [41]，vfTLP定义为小于10 ns脉冲宽度和100~500 ps上升时间的TLP应力。 快上升时间和短脉冲持续时间使得在纳秒时间域内可进行瞬态器件行为的测量。 由于脉冲长度的原因，同一器件的TLP和vfTLP I-V 特性并不相同。 传统的100 ns TLP测量代表器件的准静态阶段。 vfTLP I-V曲线表示更动态的器件行为，这与比如DUT的触发延迟有关（图2.30）。 图2.30 vfTLP …

对单体TVS而言，从做完TLP测试而得的图形之中即可快速的找出在相对应的 ESD电流 之下，TVS的箝制电压 (Clamping Voltage)是多少。 箝制电压小的TVS代表保护效果更佳，系统越可能通过IEC61000-4-2的测试。 因此TLP图形能协助我们去推测TVS是否能满足系统的ESD防护需求，以通过IEC61000-4-2的静电测试。 对系统产品而言，IEC61000-4-2的ESD Gun测试能很快得知其ESD耐受程度，而做TLP测试则能帮助我们深入找出失效点的电压。 我们可以对系统主芯片 …