
TLP测试标准和方法 - 知乎 - 知乎专栏
2021年7月13日 · 根据脉冲产生方式的不同,TLP系统可以分为时域反射(Time Domain Reflection,TDR)、时域传输(Time Domain Transmission,TDT)、时域反射和传输(Time Domain Reflection and Transmission,TDRT)和电流源(Current Source) (500Q阻抗)四种方式,其中TDR又可分为TDR-O和TDR-S。 这里介绍的TLP测试系统 Barth 4002 是一种TDR-O系统,在测试过程中所得的曲线通过传输线的入射波和反射波叠加而成,测得的初始数据为瞬态 …
How is TLP different than Curve Tracing? How is TLP the same as Curve Tracing? TLP? What does a TLP waveform look like? What variations are there for TLP waveforms? How do these variations affect the TLP test? What kinds of packages can be tested? How is a TLP waveform generated? What happens when the waveform hits the DUT?
芯片IC测试专栏—ESD与TLP - CSDN博客
2022年1月21日 · TLP,Transmission Line Plus,其实就是测试芯片引脚的IV特性,不过不是测试引脚DC电压下的电流,而是给芯片引脚一个脉冲,脉宽约为100ns,上升时间约为10ns(与HBM能量一致,之后TLP又有了5ns脉宽的规格,用来模拟CDM的工作特性)。
TLP graph to show the total level of protection. The TLP graph is the most useful device when trying to determine if an ESD diode can protect an IC or not. While not technically a model type, the TLP graph will allow simulations to be done instantly if both the ESD's and downstream IC's TLP curve is known. The TLP
TLP测试 - 知乎 - 知乎专栏
tlp tlp测试是利用传输线产生的矩形短脉冲来测量esd保护元件的电流-电压特性曲线的方法。 由 充电电压源、传输线、匹配的终端、电压-电流转换器、被测器件组成。
摘 要:人体–金属模型波形(hmm)和传输线脉冲(tlp)波形是静电放电防护器件测试时常用的注入波形。 针对静电放电(ESD)防护器件,介绍了这2 种波形的测试方法。
Transmission Line Pulse (TLP) test system
2021年6月8日 · Example TLP curve (blue) and leakage curve (red) for a thick oxide NMOS transistor in a 180nm CMOS technology. From the IV curve we can get information about the triggerpoint (Vt1, It1), clamping voltage (Vh) and failure point (Vt2, It2).
浅谈ESD/Latch-up测试报告与TLP报告的解读 - u12u34的日志
2022年12月1日 · TLP(Transmission Line Pulse)传输线脉冲发生器,这是目前分析ESD最重要的仪器手段之一。 MK2测试仪只能反馈通过与否,是一个静态的测试过程。 而TLP能实时反应芯片的I-V曲线,是一个动态的测试过程。 TLP不仅能模拟HBM波形也能模拟CDM和MM波形,同时也能连接浪涌发生器。 图六.TLP仪器照片。 (图源网络) 图六中可以看出TLP配备有脉冲发生器,探针台,真空泵,示波器等设备。
ESD干货_tlp曲线-CSDN博客
2019年11月19日 · 对于了解钳位电压最好的办法是观测esd二极管的传输线性脉冲曲线,或者简称为tlp曲线 。tlp曲线提供了二极管电压与电流的关系。可以通过给定的输入电流推算出钳位电压 。 举个例子当1a的电流被释放到esd二极管,它的钳位电压大约为8.4v。
To characterize ESD diode, TLP (Transmission Line Pulse) is commonly used to measure ESD diode high current and high voltage IV characteristics in forward and reverse