2021年7月13日 · TLP测试技术 最早由Maloney和Khuranal在1985年引入的，用于研究集成电路器件在ESD事件发生时电压和电流在时域上的关系。目前TLP测试已经成为ESD防护设计中必不可少的手段。

我们可以对系统主芯片进行TLP测试，如此一来即可测得主芯片在ESD能量下的箝制电压，藉此我们就能与TVS的TLP图形来对应。 针对主芯片的箝制电压来挑选箝制电压更低的TVS。 这能帮助许多产品研发工程师在产品设计时间减少Try and Error的花费以及调整设计的时间成本。 这也是近期众多品牌厂纷纷导入TLP测试方式，来针对自家产品做ESD验证的原因。 可以发现主芯片在ESD 3.1A能量下的箝制电压为11.1V，因此我们应挑选箝制电压更低之TVS。 由此图形可看出: 在 …

Transmission line pulse (TLP) is a way to test device behavior in the current and time domain of ESD events. Conventional models for the ESD immunity tests of a device include a human body model (HBM), machine model (MM), and charge device model (CDM) whereas a system-level ESD immunity test is specified by IEC 61000-4-2 and other standards.

2024年1月15日 · 本文介绍了传输线脉冲 (TLP)测试方法，一种用于测量电子器件在ESD事件中的性能，尤其适用于比较TVS二极管的ESD保护效果与受保护IC的I-V特性。 该测试通过改变参数来模拟不同电压和电流条件，是ESD设计的重要辅助工具。 传输线脉冲（TLP）是一种在 ESD 事件的电流和时域中测试器件 性能 的方法。 器件ESD抗扰度测试的常规 模型 包括人体模型（HBM）、机器模型（MM）和充电模型（CDM），而IEC 61000-4-2和其它标准规定了系统 …

2022年12月1日 · TLP（Transmission Line Pulse）传输线脉冲发生器，这是目前分析ESD最重要的仪器手段之一。 MK2测试仪只能反馈通过与否，是一个静态的测试过程。 而TLP能实时反应芯片的I-V曲线，是一个动态的测试过程。 TLP不仅能模拟HBM波形也能模拟CDM和MM波形，同时也能连接浪涌发生器。 图六.TLP仪器照片。 （图源网络） 图六中可以看出TLP配备有脉冲发生器，探针台，真空泵，示波器等设备。

TLP TLP测试是利用传输线产生的矩形短脉冲来测量 ESD保护元件 的电流-电压特性曲线的方法。 由 充电电压源 、 传输线 、 匹配的终端 、 电压-电流转换器 、 被测器件 组成。 充电电压源 （ V_ {HV} ）提供额定能量，给 传输线 （TL）充电，产生一个窄方波（75ns~200ns）当开关S闭合时， 被测器件 （DUT）接入传输线路，产生的窄方波被作用到DUT的保护结构上。 通过示波器获取的测量值，再根据运算得到DUT两端的电压和电流值。 在上述系统中， 分流电阻 的典型值 …

什么是tlp测试？ 传输线脉冲（TLP）是一种在ESD事件的电流和时域中测试器件性能的方法。 器件ESD抗扰度测试的常规模型包括人体模型（HBM）、机器模型（MM）和充电模型（CDM），而IEC 61000-4-2和其它标准规定了系统级ESD抗扰度测试。

2024年3月29日 · TLP（Transmission Line Pulse）测试又称为传输线脉冲测试，是对静电防护半导体器件进行描述的一种常用方法。 1985年由Maloney等人就提出的ESD模拟方法，与传统的HBM、MM、CDM、IEC模型不同，传输线脉冲发生器发出的是静电模拟方波，而传统模式发出的则是RC-LC模式的 ...

TLP testing was invented in 1984 at INTEL [1] as an analysis method to measure the electrical characteristics of ESD protection circuits. TLP is an abbreviation of Transmission Line Pulse method of generating a test pulse. It is produced by discharging a charged transmission line to produce a flat top pulse.

What does a TLP waveform look like? What variations are there for TLP waveforms? How do these variations affect the TLP test? What kinds of packages can be tested? How is a TLP waveform generated? What happens when the waveform hits the DUT? How is resistance measured with a TLP pulse? Why use both a Voltage probe and a Current probe?